Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами. Розроблено новий пристрій для...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Наука та інновації
Дата:2013
Автори: Жарков, И.П., Иващенко, А.Н., Руденко, Э.М., Короташ, И.В., Краковный, А.А., Сафронов, В.В., Ходунов, В.А., Руденко, А.Э.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2013
Теми:
Наукові основи інноваційної діяльності
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-114309
record_format dspace
spelling Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
2017-03-06T14:48:07Z
2017-03-06T14:48:07Z
2013
Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
1815-2066
DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309
Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.
Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.
The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed.
Работа выполнена в рамках Программы научного приборостроения НАН Украины.
ru
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Наука та інновації
Наукові основи інноваційної діяльності
Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії
The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
spellingShingle Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
Наукові основи інноваційної діяльності
title_short Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_full Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_fullStr Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_full_unstemmed Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
title_sort низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
author Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
author_facet Жарков, И.П.
Иващенко, А.Н.
Руденко, Э.М.
Короташ, И.В.
Краковный, А.А.
Сафронов, В.В.
Ходунов, В.А.
Руденко, А.Э.
topic Наукові основи інноваційної діяльності
topic_facet Наукові основи інноваційної діяльності
publishDate 2013
language Russian
container_title Наука та інновації
publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
format Article
title_alt Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії
The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy
description Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами. Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами. The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed.
issn 1815-2066
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309
citation_txt Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT žarkovip nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT ivaŝenkoan nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT rudenkoém nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT korotašiv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT krakovnyiaa nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT safronovvv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT hodunovva nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT rudenkoaé nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii
AT žarkovip nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT ivaŝenkoan nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT rudenkoém nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT korotašiv nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT krakovnyiaa nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT safronovvv nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT hodunovva nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT rudenkoaé nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí
AT žarkovip thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT ivaŝenkoan thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT rudenkoém thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT korotašiv thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT krakovnyiaa thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT safronovvv thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT hodunovva thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
AT rudenkoaé thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy
first_indexed 2025-12-07T16:21:46Z
last_indexed 2025-12-07T16:21:46Z
_version_ 1850867194296008704

Схожі ресурси