Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии
Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной
 криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами. Розроблено новий прист...
Saved in:
| Published in: | Наука та інновації |
|---|---|
| Date: | 2013 |
| Main Authors: | , , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862694225795088384 |
|---|---|
| author | Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. |
| author_facet | Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. |
| citation_txt | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наука та інновації |
| description | Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной
криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.
Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому
використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.
The new device for microwave non-destructive defectoscopy
with minimum thermal noises and increased signal /
noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat
with integrated active microwave elements, is designed.
|
| first_indexed | 2025-12-07T16:21:46Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-114309 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1815-2066 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T16:21:46Z |
| publishDate | 2013 |
| publisher | Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. 2017-03-06T14:48:07Z 2017-03-06T14:48:07Z 2013 Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. 1815-2066 DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309 Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной
 криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами. Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому
 використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами. The new device for microwave non-destructive defectoscopy
 with minimum thermal noises and increased signal /
 noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat
 with integrated active microwave elements, is designed. Работа выполнена в рамках Программы научного приборостроения НАН Украины. ru Видавничий дім "Академперіодика" НАН України Наука та інновації Наукові основи інноваційної діяльності Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy Article published earlier |
| spellingShingle | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии Жарков, И.П. Иващенко, А.Н. Руденко, Э.М. Короташ, И.В. Краковный, А.А. Сафронов, В.В. Ходунов, В.А. Руденко, А.Э. Наукові основи інноваційної діяльності |
| title | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии |
| title_alt | Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy |
| title_full | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии |
| title_fullStr | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии |
| title_full_unstemmed | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии |
| title_short | Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии |
| title_sort | низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии |
| topic | Наукові основи інноваційної діяльності |
| topic_facet | Наукові основи інноваційної діяльності |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114309 |
| work_keys_str_mv | AT žarkovip nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT ivaŝenkoan nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT rudenkoém nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT korotašiv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT krakovnyiaa nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT safronovvv nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT hodunovva nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT rudenkoaé nizkotemperaturnoeskaniruûŝeeustroistvodlâmikrovolnovoinerazrušaûŝeidefektoskopii AT žarkovip nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT ivaŝenkoan nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT rudenkoém nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT korotašiv nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT krakovnyiaa nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT safronovvv nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT hodunovva nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT rudenkoaé nizʹkotemperaturniiskanuûčiipristríidlâmíkrohvilʹovoíneruinívnoídefektoskopíí AT žarkovip thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT ivaŝenkoan thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT rudenkoém thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT korotašiv thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT krakovnyiaa thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT safronovvv thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT hodunovva thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy AT rudenkoaé thelowtemperaturedeviceformicrowavenondestructivedefectoscopy |