Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots
Capacitance spectroscopy is used to study electronic properties of self-assembled InAs quantum dots. The capacitance-voltage, C(V), measurements in combination with the magneto-capacitance, C(B), results make it possible to investigate the electrostatic profile of a series of single-barrier n-i-n Ga...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 1998 |
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114663 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots / P.M. Martin, A.E. Belyaev, L. Eaves, P.C. Main, F.W. Sheard, T. Ihn, M. Henini // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 7-12. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-114663 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Martin, P.M. Belyaev, A.E. Eaves, L. Main, P.C. Sheard, F.W. Ihn, T. Henini, M. 2017-03-11T15:54:43Z 2017-03-11T15:54:43Z 1998 Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots / P.M. Martin, A.E. Belyaev, L. Eaves, P.C. Main, F.W. Sheard, T. Ihn, M. Henini // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 7-12. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. 1560-8034 PACS 73.20; 75.50 Pp https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114663 Capacitance spectroscopy is used to study electronic properties of self-assembled InAs quantum dots. The capacitance-voltage, C(V), measurements in combination with the magneto-capacitance, C(B), results make it possible to investigate the electrostatic profile of a series of single-barrier n-i-n GaAs/AlAs/GaAs heterostructures incorporating a layer of self-assembled InAs quantum dots in the AlAs barrier. We find that the negative charge associated with electron filling of the dots is closely compensated by a positive charge in the AlAs barrier, which we ascribe to ionised defects or impurities, possibly in association with the quantum dots. It is shown the compensation degree considerably depends on the growth conditions. Ємнiсна спектроскопiя використується для дослiдження електронних властивостей само-органiзованих InAs квантових точок. Вимiрювання вольт-фарадних характеристик, C(V), одночасно з даними по магнето-емностi, C(B), дозволяють дослiджувати електростатичний профiль однобар.єрних p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, якi мiстять в AlAs бар.єрі шар само-органiзованих InAs квантових точок. Ми визначили, що негативний заряд, пов.язаний з заповненням квантових точок електронами, майже повнiстю компенсується позитивним зарядом в AlAs бар.єрi, що, на нашу думку, пов.язано з iонiзованими дефектами чи домiшками, якi обумовлені квантовими точками. Показано, що мiра компенсацiї суттєво залежить вiд ростових умов. Емкостная спектроскопия используется для исследования электронных свойств само-организованных InAs квантовых точек. Измерение вольт-фарадных характеристик, C(V), совместно с данными по магнето-емкости, C(B), позволяют исследовать электростатический профиль однобарьерных p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, содержащих в AlAs барьере слой само-организованных InAs квантовых точек. Мы установили, что отрицательный заряд, связанный с заполнением квантовых точек электронами, почти полностью компенсируется положительным зарядом в AlAs барьере, который, по нашему мнению, связан с ионизованными дефектами или примесями, обусловленными квантовыми точками. Показано, что степень компенсации существенно зависит от ростовых условий. This work is supported by EPSRC (U.K.). A.E.Belyaev and L.Eaves acknowledge the financial support of the Royal Society and EPSRC, respectively. A.E.B. was partly supported by STCU under Project No.464. en Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots Емнiсна спектроскопiя InAs само-органiзованих квантових точок Емкостная спектроскопия InAs само-организованных квантовых точек Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots |
| spellingShingle |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots Martin, P.M. Belyaev, A.E. Eaves, L. Main, P.C. Sheard, F.W. Ihn, T. Henini, M. |
| title_short |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots |
| title_full |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots |
| title_fullStr |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots |
| title_full_unstemmed |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots |
| title_sort |
capacitance spectroscopy of inas self-assembled quantum dots |
| author |
Martin, P.M. Belyaev, A.E. Eaves, L. Main, P.C. Sheard, F.W. Ihn, T. Henini, M. |
| author_facet |
Martin, P.M. Belyaev, A.E. Eaves, L. Main, P.C. Sheard, F.W. Ihn, T. Henini, M. |
| publishDate |
1998 |
| language |
English |
| container_title |
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Емнiсна спектроскопiя InAs само-органiзованих квантових точок Емкостная спектроскопия InAs само-организованных квантовых точек |
| description |
Capacitance spectroscopy is used to study electronic properties of self-assembled InAs quantum dots. The capacitance-voltage, C(V), measurements in combination with the magneto-capacitance, C(B), results make it possible to investigate the electrostatic profile of a series of single-barrier n-i-n GaAs/AlAs/GaAs heterostructures incorporating a layer of self-assembled InAs quantum dots in the AlAs barrier. We find that the negative charge associated with electron filling of the dots is closely compensated by a positive charge in the AlAs barrier, which we ascribe to ionised defects or impurities, possibly in association with the quantum dots. It is shown the compensation degree considerably depends on the growth conditions.
Ємнiсна спектроскопiя використується для дослiдження електронних властивостей само-органiзованих InAs квантових точок. Вимiрювання вольт-фарадних характеристик, C(V), одночасно з даними по магнето-емностi, C(B), дозволяють дослiджувати електростатичний профiль однобар.єрних p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, якi мiстять в AlAs бар.єрі шар само-органiзованих InAs квантових точок. Ми визначили, що негативний заряд, пов.язаний з заповненням квантових точок електронами, майже повнiстю компенсується позитивним зарядом в AlAs бар.єрi, що, на нашу думку, пов.язано з iонiзованими дефектами чи домiшками, якi обумовлені квантовими точками. Показано, що мiра компенсацiї суттєво залежить вiд ростових умов.
Емкостная спектроскопия используется для исследования электронных свойств само-организованных InAs квантовых точек. Измерение вольт-фарадных характеристик, C(V), совместно с данными по магнето-емкости, C(B), позволяют исследовать электростатический профиль однобарьерных p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, содержащих в AlAs барьере слой само-организованных InAs квантовых точек. Мы установили, что отрицательный заряд, связанный с заполнением квантовых точек электронами, почти полностью компенсируется положительным зарядом в AlAs барьере, который, по нашему мнению, связан с ионизованными дефектами или примесями, обусловленными квантовыми точками. Показано, что степень компенсации существенно зависит от ростовых условий.
|
| issn |
1560-8034 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114663 |
| fulltext |
|
| citation_txt |
Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots / P.M. Martin, A.E. Belyaev, L. Eaves, P.C. Main, F.W. Sheard, T. Ihn, M. Henini // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 7-12. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT martinpm capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT belyaevae capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT eavesl capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT mainpc capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT sheardfw capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT ihnt capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT heninim capacitancespectroscopyofinasselfassembledquantumdots AT martinpm emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT belyaevae emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT eavesl emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT mainpc emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT sheardfw emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT ihnt emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT heninim emnisnaspektroskopiâinassamoorganizovanihkvantovihtočok AT martinpm emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček AT belyaevae emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček AT eavesl emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček AT mainpc emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček AT sheardfw emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček AT ihnt emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček AT heninim emkostnaâspektroskopiâinassamoorganizovannyhkvantovyhtoček |
| first_indexed |
2025-11-24T10:57:31Z |
| last_indexed |
2025-11-24T10:57:31Z |
| _version_ |
1850845253619154944 |