Решение научно-исследовательских задач с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа Phenom ProX
Phenom ProX — современный, быстрый, эффективный универсальный настольный сканирующий электронный микроскоп с интегрированной системой энергодисперсионного анализа. Уникальная конструкция позволяет применять его для решения разнообразных научно-исследовательских вопросов, задач материаловедения, кон...
Saved in:
| Published in: | Наука та інновації |
|---|---|
| Date: | 2014 |
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2014
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114964 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Решение научно-исследовательских задач с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа Phenom ProX / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2014. — Т. 10, № 2. — С. 61-63. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Phenom ProX — современный, быстрый, эффективный универсальный настольный сканирующий электронный
микроскоп с интегрированной системой энергодисперсионного анализа. Уникальная конструкция позволяет применять его для решения разнообразных научно-исследовательских вопросов, задач материаловедения, контроля
качества на производстве, криминалистики, фармацевтики и обучения специалистов.
Phenom ProX — сучасний, швидкий, ефективний універсальний настільний скануючий електронний мікроскоп з інтегрованою системою енергодисперсійного аналізу. Унікальна конструкція дозволяє застосовувати його
для вирішення науково-дослідних проблем, задач матеріалознавства, контролю якості на виробництві, криміналістики, фармацевтики та навчання спеціалістів.
Phenom ProX — morden effective universal desktop Scanning
Electron Microscope with integrated EDS system. Phenom-
World helps customers to stay competitive in a world where
critical dimensions are continuously getting smaller. All Phenom
desktop systems give direct access to the high resolution and
high-quality imaging and analysis required in a large variety of
applications. They are affordable, flexible and a fast tool enabling engineers, technicians, researchers and educational professionals to investigate micron and submicron structures.
|
|---|---|
| ISSN: | 1815-2066 |