Investigation of x-ray emission from high-current discharges of the PF type

The invited paper reports on measurements of soft x-rays emitted from hot plasmas produced in a modernised
 PF-1000U facility. The discharges were performed at the D2-filling with or without a Ne-admixture, under the initial
 pressure of 0.9 or 1.5 Torr and at the initial charging...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Вопросы атомной науки и техники
Datum:2016
Hauptverfasser: Skladnik-Sadowska, E., Sadowski, M.J., Malinowsk, K., Surala, W., Zaloga, D., Paduch, M., Zielinska, E., Tomaszewski, K.
Format: Artikel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115330
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Investigation of x-ray emission from high-current discharges of the PF type / E. Skladnik-Sadowska, M.J. Sadowski, K. Malinowski, W. Surala, D. Zaloga, M. Paduch, E. Zielinska, K. Tomaszewski // Вопросы атомной науки и техники. — 2016. — № 6. — С. 112-116. — Бібліогр.: 19 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:The invited paper reports on measurements of soft x-rays emitted from hot plasmas produced in a modernised
 PF-1000U facility. The discharges were performed at the D2-filling with or without a Ne-admixture, under the initial
 pressure of 0.9 or 1.5 Torr and at the initial charging voltage equal to 16 or 18 kV. Time-integrated x-ray images
 were recorded with a pinhole camera situated side-on, at an angle of 75º to the z-axis. Differences in the pinch
 column structure were observed. Time-resolved measurements were performed with four PIN diodes located behind
 filtered pinholes. Two couples of PIN diodes (with Be-filters of 7 and 10 μm in thickness) observed 30 mm-diam.
 regions which had centres at a distance of 30 and 60 mm form the electrode outlets. From the recorded timeresolved
 x-ray signals the electron temperatures (Te) were calculated. For the pure D2-discharges the estimated Te
 values ranged from 75 to 250 eV depending on the discharge conditions. For discharges with a Ne-admixture Te values were higher and reached about 800 eV. Описаны измерения мягкого рентгеновского излучения горячей плазмы, генерируемой в модернизированной
 установке ПФ-1000U. Разряд происходит в вакуумной камере при напуске дейтерия D2 с добавкой Ne и без, начальное
 давление составляло 0,9 и 1,5 Торр, а рабочее напряжение  16…18 кВ. С помощью камеры обскура, расположенной
 под углом 75º относительно оси z, зарегистрированы рентгеновские снимки с временным разрешением. Наблюдается
 разница в структуре пинча. Измерения с временным разрешением проводились с помощью четырёх диодов,
 расположенных за отверстием с фильтром. Две пары диодов (с бериллиевым фильтром толщиной 7 и 10 мкм)
 передавали изображение из зон радиусом 30 мм, центры которых находятся на расстоянии 30 и 60 мм от среза
 электродов. Анализ сигналов рентгеновского излучения с временным разрешением позволил оценить электронную
 температуру (Те). Для разрядов с чистым дейтерием величина электронной температуры варьируется от 75 до 250 эВ в
 зависимости от условий разряда. Для разрядов с добавкой неона температура была выше и достигала 800 эВ. Описані вимірювання м’якого рентгенівського випромінювання гарячої плазми, що генерується в
 модернізованому пристрої ПФ-1000U. Розряд відбувається у вакуумній камері при напуску дейтерію D2 з домішкою
 Ne та без нього, початковий тиск складав 0,9 та 1,5 Торр, а робоча напруга  16…18 кВ. Рентгенівські знімки з
 часовим розділенням зареєстровані за допомогою камери обскура, яка знаходилась під кутом 750
 відносно осі z.
 Спостерігається різниця в структурі пінча. Вимірювання з часовим розділенням проводились за допомогою чотирьох
 діодів, що розташовані за отвором із фільтром. Дві пари діодів (з берилієвим фільтром 7 та 10 мкм) передавали
 зображення із зон радіусом 30 мм в плазмі, центри діодів розташовано на відстані 30 та 60 мм від електродів. Аналіз
 сигналів рентгенівського випромінювання з часовим розділенням дозволив оцінити електронну температуру (Те).
 Для розрядів с чистим дейтерієм величина електронної температури змінюється від 75 до 250 еВ в залежності від
 умов розряду. Для розрядів з домішкою неону температура сягає 800 еВ.
ISSN:1562-6016