Development of a method of absorbed dose on-line monitoring at product processing by scanned electron beam
The conditions of the contact-free absorbed dose monitoring at industrial product processing by electron beam are investigated. The method is based on analysing the collected charge in a stack monitor (SМ) mounted downstream of irradiated object. Using computer simulation on the basis of a modifie...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Вопросы атомной науки и техники |
|---|---|
| Дата: | 2016 |
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2016
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115369 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Development of a method of absorbed dose on-line monitoring at product processing by scanned electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko, A.Eh. Tenishev, D.V. Titov, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2016. — № 3. — С. 149-153. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. |