Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів

Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфір...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Наука та інновації
Datum:2011
1. Verfasser: Сафронов, Р.І.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2011
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115484
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів / Р.І. Сафронов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 3. — С. 36-38. — Бібліогр.: 4 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі. Исследована возможность измерения стехиометрии сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире. The possibility of sapphire stoichiometry determination by X-ray dispersion measurements was studied. The measurements were carried out using the X-ray fluorescent spectrometer adjusted in X-ray optical scheme with the secondary radiation source. The parameters measured were X-ray dispersion integral intensities of coherent (Ik) and incoherent (Ir) peaks. The concentrations of the F- and F⁺ centers were measured by the optical absorption at 206, 225 and 255 nm wavelengths. The existence of a certain relation between Ik/Ir value and sapphire stoichiometry was revealed. The formula for cation vacancies quantity determination in the sapphire is proposed.
ISSN:1815-2066