Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів

Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфір...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Наука та інновації
Дата:2011
Автор: Сафронов, Р.І.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2011
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115484
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів / Р.І. Сафронов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 3. — С. 36-38. — Бібліогр.: 4 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі. Исследована возможность измерения стехиометрии
 сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения
 проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире. The possibility of sapphire stoichiometry determination
 by X-ray dispersion measurements was studied. The measurements
 were carried out using the X-ray fluorescent spectrometer
 adjusted in X-ray optical scheme with the secondary
 radiation source. The parameters measured were X-ray
 dispersion integral intensities of coherent (Ik) and incoherent
 (Ir) peaks. The concentrations of the F- and F⁺ centers
 were measured by the optical absorption at 206, 225 and 255
 nm wavelengths. The existence of a certain relation between
 Ik/Ir value and sapphire stoichiometry was revealed. The formula
 for cation vacancies quantity determination in the sapphire is proposed.
ISSN:1815-2066