Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфір...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Наука та інновації |
|---|---|
| Datum: | 2011 |
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2011
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115484 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів / Р.І. Сафронов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 3. — С. 36-38. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі.
Исследована возможность измерения стехиометрии
сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения
проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире.
The possibility of sapphire stoichiometry determination
by X-ray dispersion measurements was studied. The measurements
were carried out using the X-ray fluorescent spectrometer
adjusted in X-ray optical scheme with the secondary
radiation source. The parameters measured were X-ray
dispersion integral intensities of coherent (Ik) and incoherent
(Ir) peaks. The concentrations of the F- and F⁺ centers
were measured by the optical absorption at 206, 225 and 255
nm wavelengths. The existence of a certain relation between
Ik/Ir value and sapphire stoichiometry was revealed. The formula
for cation vacancies quantity determination in the sapphire is proposed.
|
|---|---|
| ISSN: | 1815-2066 |