Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів

Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфір...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Наука та інновації
Дата:2011
Автор: Сафронов, Р.І.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2011
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115484
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів / Р.І. Сафронов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 3. — С. 36-38. — Бібліогр.: 4 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-115484
record_format dspace
spelling Сафронов, Р.І.
2017-04-05T12:14:00Z
2017-04-05T12:14:00Z
2011
Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів / Р.І. Сафронов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 3. — С. 36-38. — Бібліогр.: 4 назв. — укр.
1815-2066
DOI: doi.org/10.15407/scin7.03.036
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115484
Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі.
Исследована возможность измерения стехиометрии сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире.
The possibility of sapphire stoichiometry determination by X-ray dispersion measurements was studied. The measurements were carried out using the X-ray fluorescent spectrometer adjusted in X-ray optical scheme with the secondary radiation source. The parameters measured were X-ray dispersion integral intensities of coherent (Ik) and incoherent (Ir) peaks. The concentrations of the F- and F⁺ centers were measured by the optical absorption at 206, 225 and 255 nm wavelengths. The existence of a certain relation between Ik/Ir value and sapphire stoichiometry was revealed. The formula for cation vacancies quantity determination in the sapphire is proposed.
uk
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Наука та інновації
Науково-технічні інноваційні проекти Національної академії наук України
Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
Определение стехиометрии сапфира за рассеянием рентгеновских лучей
Determination of Sapphire Stoichiometry by X-RAY Scattering
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
spellingShingle Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
Сафронов, Р.І.
Науково-технічні інноваційні проекти Національної академії наук України
title_short Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
title_full Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
title_fullStr Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
title_full_unstemmed Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
title_sort визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів
author Сафронов, Р.І.
author_facet Сафронов, Р.І.
topic Науково-технічні інноваційні проекти Національної академії наук України
topic_facet Науково-технічні інноваційні проекти Національної академії наук України
publishDate 2011
language Ukrainian
container_title Наука та інновації
publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
format Article
title_alt Определение стехиометрии сапфира за рассеянием рентгеновских лучей
Determination of Sapphire Stoichiometry by X-RAY Scattering
description Вивчена можливість вимірювання стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів. Вимірювання проводилися на рентгенофлуоресцентному спектрометрі в рентгенооптичній схемі з вторинним джерелом випромінювання. Показано існування однозначного зв’язку між величиною Ik/Ir та стехіометрією сапфіру. Запропонована формула для визначення кількості катіонних вакансій в сапфірі. Исследована возможность измерения стехиометрии сапфира по рассеянию рентгеновских лучей. Измерения проводились на рентгенофлуоресцентном спектрометре в рентгенооптической схеме с вторичным источником излучения. Показано существование однозначной связи между величиной Ik/Ir и стехиометрией сапфира. Предложена формула для определения количества катионных вакансий в сапфире. The possibility of sapphire stoichiometry determination by X-ray dispersion measurements was studied. The measurements were carried out using the X-ray fluorescent spectrometer adjusted in X-ray optical scheme with the secondary radiation source. The parameters measured were X-ray dispersion integral intensities of coherent (Ik) and incoherent (Ir) peaks. The concentrations of the F- and F⁺ centers were measured by the optical absorption at 206, 225 and 255 nm wavelengths. The existence of a certain relation between Ik/Ir value and sapphire stoichiometry was revealed. The formula for cation vacancies quantity determination in the sapphire is proposed.
issn 1815-2066
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/115484
citation_txt Визначення стехіометрії сапфіру за розсіянням рентгенівських променів / Р.І. Сафронов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 3. — С. 36-38. — Бібліогр.: 4 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT safronovrí viznačennâstehíometríísapfíruzarozsíânnâmrentgenívsʹkihpromenív
AT safronovrí opredeleniestehiometriisapfirazarasseâniemrentgenovskihlučei
AT safronovrí determinationofsapphirestoichiometrybyxrayscattering
first_indexed 2025-12-07T17:52:52Z
last_indexed 2025-12-07T17:52:52Z
_version_ 1850872926070374400