Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах

Представлена авторська конструкція сканувального зондового мікроскопа (СЗМ), який поєднує операції сканування поверхні та її модифікації. Особливостями приладу є вістря з легованого бором алмазу та електромагнітний
 механізм вимірювання рівня навантажень при нановзаємодіях вістря з поверхнею...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Наука та інновації
Дата:2012
Автор: Лисенко, О.Г.
Формат: Стаття
Мова:Українська
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2012
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116082
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах / О.Г. Лисенко // Наука та інновації. — 2012. — Т. 8, № 2. — С. 8-12. — Бібліогр.: 26 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862580754952749056
author Лисенко, О.Г.
author_facet Лисенко, О.Г.
citation_txt Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах / О.Г. Лисенко // Наука та інновації. — 2012. — Т. 8, № 2. — С. 8-12. — Бібліогр.: 26 назв. — укр.
collection DSpace DC
container_title Наука та інновації
description Представлена авторська конструкція сканувального зондового мікроскопа (СЗМ), який поєднує операції сканування поверхні та її модифікації. Особливостями приладу є вістря з легованого бором алмазу та електромагнітний
 механізм вимірювання рівня навантажень при нановзаємодіях вістря з поверхнею зразка. Показано методики комбінованих нанотехнологічних досліджень тонких плівок та результати формування поверхневих наноструктур контактним методом. Представлена авторская конструкция сканирующего
 зондового микроскопа (СЗМ), который объединяет операции сканирования поверхности и ее модификации.
 Особенностями прибора является острие из легированного бором алмаза и электромагнитный механизм измерения уровня нагрузок при нановзаимодействиях острия
 с поверхностью образца. Показана методика комбинированных нанотехнологических исследований тонких пленок и результаты формирования поверхностных наноструктур контактным методом. The author’s design of scanning probe microscope (SPM),
 which combines surface scanning and modifications is presented.
 The features of the device are boron doped diamond
 tip, and electromagnetic mechanism to measure the level of
 loads during nanointeractions between the tip and the sample
 surface. The techniques of combined nanotechnology
 research of thin films and the results of the formation of surface
 nanostructures with contact method are shown.
first_indexed 2025-11-26T21:23:15Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-116082
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1815-2066
language Ukrainian
last_indexed 2025-11-26T21:23:15Z
publishDate 2012
publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
record_format dspace
spelling Лисенко, О.Г.
2017-04-20T13:15:10Z
2017-04-20T13:15:10Z
2012
Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах / О.Г. Лисенко // Наука та інновації. — 2012. — Т. 8, № 2. — С. 8-12. — Бібліогр.: 26 назв. — укр.
1815-2066
DOI: doi.org/10.15407/scin8.02.008
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116082
Представлена авторська конструкція сканувального зондового мікроскопа (СЗМ), який поєднує операції сканування поверхні та її модифікації. Особливостями приладу є вістря з легованого бором алмазу та електромагнітний
 механізм вимірювання рівня навантажень при нановзаємодіях вістря з поверхнею зразка. Показано методики комбінованих нанотехнологічних досліджень тонких плівок та результати формування поверхневих наноструктур контактним методом.
Представлена авторская конструкция сканирующего
 зондового микроскопа (СЗМ), который объединяет операции сканирования поверхности и ее модификации.
 Особенностями прибора является острие из легированного бором алмаза и электромагнитный механизм измерения уровня нагрузок при нановзаимодействиях острия
 с поверхностью образца. Показана методика комбинированных нанотехнологических исследований тонких пленок и результаты формирования поверхностных наноструктур контактным методом.
The author’s design of scanning probe microscope (SPM),
 which combines surface scanning and modifications is presented.
 The features of the device are boron doped diamond
 tip, and electromagnetic mechanism to measure the level of
 loads during nanointeractions between the tip and the sample
 surface. The techniques of combined nanotechnology
 research of thin films and the results of the formation of surface
 nanostructures with contact method are shown.
Автор висловлює подяку інженерам В.М. Кір’єву, В.І. Міцкевичу та А.В. Щербакову за виготовлення елементів конструкції, електроніки та програмного забезпечення приладу.
uk
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Наука та інновації
Світ інновацій
Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп с алмазным острием. Нанотехнологические исследования при атмосферных условиях
Multifunction Scanning Probe Microscope with Diamond Tip. Nanotechnological Research at Ambient Conditions
Article
published earlier
spellingShingle Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
Лисенко, О.Г.
Світ інновацій
title Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
title_alt Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп с алмазным острием. Нанотехнологические исследования при атмосферных условиях
Multifunction Scanning Probe Microscope with Diamond Tip. Nanotechnological Research at Ambient Conditions
title_full Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
title_fullStr Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
title_full_unstemmed Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
title_short Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
title_sort багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах
topic Світ інновацій
topic_facet Світ інновацій
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116082
work_keys_str_mv AT lisenkoog bagatofunkcíonalʹniiskanuvalʹniizondoviimíkroskopzalmaznimvístrâmnanotehnologíčnídoslídžennâpriatmosfernihumovah
AT lisenkoog mnogofunkcionalʹnyiskaniruûŝiizondovyimikroskopsalmaznymostriemnanotehnologičeskieissledovaniâpriatmosfernyhusloviâh
AT lisenkoog multifunctionscanningprobemicroscopewithdiamondtipnanotechnologicalresearchatambientconditions