Сканирующий ионный гелиевый микроскоп

• Опубліковано в: Наука та інновації
• Дата: 2012
• ISSN: 1815-2066
• Автор: Петров, Ю.В.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2012
• Теми: Світ інновацій
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116085
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Сканирующий ионный гелиевый микроскоп / Ю.В. Петров // Наука та інновації. — 2012. — Т. 8, № 2. — С. 23-25. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Описан опыт использования сканирующего гелиевого микроскопа ORION (Carl Zeiss) в исследованиях, проводимых в Междисциплинарном Ресурсном Центре по направлению «нанотехнологии» (Санкт-Петербург, Россия). Затронуты вопросы о формировании и стабильности гелиевого одноатомного источника, о процессах взаимодействия ионов гелия с исследуемым веществом; описаны возможности применения ионной гелиевой микроскопии и литографии. Описано досвід використання скануючого гелієвого
 мікроскопа ORION (Carl Zeiss) в дослідженнях, що проводяться в Міждисциплінарному Ресурсному Центрі за
 напрямком «нанотехнології» (С-Петербург, Росія). Порушені питання про формування та стабільність гелієвого одноатомного джерела, про процеси взаємодії іонів
 гелію з досліджуваною речовиною; описані можливості застосування іонної гелієвої мікроскопії та літографії. This article describes the experience of using helium microscope
 ORION (Carl Zeiss) at the Interdisciplinary Resource
 Center of «Nanotechnology» (St.Petersburg, Russia).
 Author discusses the formation and stability of helium single
 atom source, the processes of interaction of helium ions
 with the investigated substance, describes the possibility of applying helium ion microscopy and lithography.