APA (7th ed.) Citation

Чапон, П., & Костенко, О. (2012). Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™. Наука та інновації.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Чапон, П, and О.К Костенко. "Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™." Наука та інновації 2012.

MLA (8th ed.) Citation

Чапон, П, and О.К Костенко. "Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™." Наука та інновації, 2012.

Warning: These citations may not always be 100% accurate.