Чапон, П., & Костенко, О. (2012). Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™. Наука та інновації.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Чапон, П, und О.К Костенко. "Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™." Наука та інновації 2012.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Чапон, П, und О.К Костенко. "Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™." Наука та інновації, 2012.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.