Чапон, П., & Костенко, О. (2012). Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™. Наука та інновації.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Чапон, П, та О.К Костенко. "Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™." Наука та інновації 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Чапон, П, та О.К Костенко. "Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS™." Наука та інновації, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.