Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной,
 автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовани...
Saved in:
| Published in: | Наука та інновації |
|---|---|
| Date: | 2013 |
| Main Author: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116255 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862647393436041216 |
|---|---|
| author | Верцанова, Е.В. |
| author_facet | Верцанова, Е.В. |
| citation_txt | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Наука та інновації |
| description | Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной,
автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовании этого метода
важным является качество подготовки поверхности образца. Оборудование и методики производителя лабораторного оборудования Struers (Дания) для пробоподготовки помогут исследователю решить эту проблему и обеспечить качественную полированную поверхность образцов. В статье описаны основные этапы пробоподготовки и
даны рекомендации по выбору оборудования и режимам его работы.
Метод дифракції відбитих електронів на растровому
електронному мікроскопі сьогодні застосовується в різних областях дослідження: в металообробній промисловості, аерокосмічній галузі, атомній, автомобільній, мікроелектронній промисловості та наукових експериментах.
При застосуванні цього методу важливою є якість підготовки поверхні зразка. Обладнання та методики виробника лабораторного обладнання Struers (Данія) допоможуть
досліднику вирішити цю проблему і забезпечити якісну
поліровану поверхню зразків. У статті описані основні
етапи пробопідготовки і наведені рекомендації по вибору устаткування і режими його роботи.
Today, method of EBSD in a scanning electron microscope
is used in various areas of research: in the metal, aerospace,
nuclear, automotive industry, microelectronics, basic science.
The quality of the sample surface is very essential for the
method application. Equipment and methods of preparation
from manufacturer of laboratory equipment Struers (Denmark)
help to solve this problem and provide quality of sample
polished surface. The paper describes main stages of sample
preparation and gives recommendations on the choice of equipment and its operation modes.
|
| first_indexed | 2025-12-01T13:18:53Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-116255 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1815-2066 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-01T13:18:53Z |
| publishDate | 2013 |
| publisher | Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Верцанова, Е.В. 2017-04-23T14:40:50Z 2017-04-23T14:40:50Z 2013 Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос. 1815-2066 DOI: doi.org/10.15407/scin9.02.072 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116255 Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной,
 автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовании этого метода
 важным является качество подготовки поверхности образца. Оборудование и методики производителя лабораторного оборудования Struers (Дания) для пробоподготовки помогут исследователю решить эту проблему и обеспечить качественную полированную поверхность образцов. В статье описаны основные этапы пробоподготовки и
 даны рекомендации по выбору оборудования и режимам его работы. Метод дифракції відбитих електронів на растровому
 електронному мікроскопі сьогодні застосовується в різних областях дослідження: в металообробній промисловості, аерокосмічній галузі, атомній, автомобільній, мікроелектронній промисловості та наукових експериментах.
 При застосуванні цього методу важливою є якість підготовки поверхні зразка. Обладнання та методики виробника лабораторного обладнання Struers (Данія) допоможуть
 досліднику вирішити цю проблему і забезпечити якісну
 поліровану поверхню зразків. У статті описані основні
 етапи пробопідготовки і наведені рекомендації по вибору устаткування і режими його роботи. Today, method of EBSD in a scanning electron microscope
 is used in various areas of research: in the metal, aerospace,
 nuclear, automotive industry, microelectronics, basic science.
 The quality of the sample surface is very essential for the
 method application. Equipment and methods of preparation
 from manufacturer of laboratory equipment Struers (Denmark)
 help to solve this problem and provide quality of sample
 polished surface. The paper describes main stages of sample
 preparation and gives recommendations on the choice of equipment and its operation modes. ru Видавничий дім "Академперіодика" НАН України Наука та інновації Світ інновацій Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов Підготовка зразків металів і сплавів на основі заліза для дослідження на растровому електронному мікроскопі методом дифракції відбитих електронів Preparation of Samples of Metals and Alloys Based on Iron for Research with EBSD in a Scanning Electron Microscope Article published earlier |
| spellingShingle | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов Верцанова, Е.В. Світ інновацій |
| title | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов |
| title_alt | Підготовка зразків металів і сплавів на основі заліза для дослідження на растровому електронному мікроскопі методом дифракції відбитих електронів Preparation of Samples of Metals and Alloys Based on Iron for Research with EBSD in a Scanning Electron Microscope |
| title_full | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов |
| title_fullStr | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов |
| title_full_unstemmed | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов |
| title_short | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов |
| title_sort | подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов |
| topic | Світ інновацій |
| topic_facet | Світ інновацій |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116255 |
| work_keys_str_mv | AT vercanovaev podgotovkaobrazcovmetallovisplavovnaosnoveželezadlâissledovaniânarastrovomélektronnommikroskopemetodomdifrakciiotražennyhélektronov AT vercanovaev pídgotovkazrazkívmetalívísplavívnaosnovízalízadlâdoslídžennânarastrovomuelektronnomumíkroskopímetodomdifrakcíívídbitihelektronív AT vercanovaev preparationofsamplesofmetalsandalloysbasedonironforresearchwithebsdinascanningelectronmicroscope |