Причина нестабильности лазерной генерации, обнаруженной в волноводной электролюминесцентной тонкопленочной ZnS:Cr-структуре
В тонкопленочной электролюминесцентной волноводной ZnS:Crструктуре обнаружена лазерная генерация в излучении ионов Cr²⁺ , возбуждаемых ударно горячими электронами. Она возникает при поле в пленке ZnS:Cr свыше 2 МВ·см⁻¹ и подтверждается очень существенным увеличением (примерно в 100 раз) интенсивност...
Saved in:
| Published in: | Оптоэлектроника и полупроводниковая техника |
|---|---|
| Date: | 2011 |
| Main Authors: | Власенко, Н.А., Олексенко, П.Ф., Мухльо, М.А., Литвин, П.М., Велигура, Л.И., Денисова, З.Л. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2011
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116693 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Причина нестабильности лазерной генерации, обнаруженной в волноводной электролюминесцентной тонкопленочной ZnS:Cr-структуре / Н.А. Власенко, П.Ф. Олексенко, М.А. Мухльо, П.М. Литвин, Л.И. Велигура, З.Л. Денисова // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2011. — Вип. 46. — С. 28-34. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
-
Метод оценки качества тонкопленочной платы
by: Spirin, V. G
Published: (2012) -
Метод оценки качества тонкопленочной платы
by: Спирин, В.Г.
Published: (2012) -
Исследование эффекта раздвоения импульса лазерной генерации при накачке HCN-лазера переменным током
by: Киселев, В.К., et al.
Published: (2009) -
Планарные структуры волноводной элементной базы миллиметрового диапазона
by: Скрипка, С.Л., et al.
Published: (2011) -
Stimulated emission of Cr²⁺ ions in ZnS:Cr thin-film electroluminescent structures
by: Vlasenko, N.A., et al.
Published: (2009)