Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів

Методом рідинно-фазної епітаксії вирощено подвійні гетеропереходи p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP і з’ясовано взаємозв’язок між технологічними режимами вирощування та їх фізичними властивостями. Показано, що використання цинку як легувальної акцепторної домішки InP спричиняє формування дифузійного p–n перехо...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Дата:2011
Автори: Круковський, С.І., Сукач, А.В., Тетьоркін, В.В., Мрихін, І.О., Михащук, Ю.С.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116700
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів / С.І. Круковський, А.В. Сукач, В.В. Тетьоркін, І.О. Мрихін, Ю.С. Михащук // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2011. — Вип. 46. — С. 74-80. — Бібліогр.: 19 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-116700
record_format dspace
spelling Круковський, С.І.
Сукач, А.В.
Тетьоркін, В.В.
Мрихін, І.О.
Михащук, Ю.С.
2017-05-13T20:40:45Z
2017-05-13T20:40:45Z
2011
Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів / С.І. Круковський, А.В. Сукач, В.В. Тетьоркін, І.О. Мрихін, Ю.С. Михащук // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2011. — Вип. 46. — С. 74-80. — Бібліогр.: 19 назв. — укр.
0233-7577
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116700
621.315.592
Методом рідинно-фазної епітаксії вирощено подвійні гетеропереходи p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP і з’ясовано взаємозв’язок між технологічними режимами вирощування та їх фізичними властивостями. Показано, що використання цинку як легувальної акцепторної домішки InP спричиняє формування дифузійного p–n переходу в шарі n-InGaAsP. Досліджено механізми проходження темнового струму в інтервалі температур 77–378 К і виявлено, що за температур 77–250 К реалізуються тунельні струми за прямих та зворотних напруг зміщення. За температур Т > 290 К переважає генераційно-рекомбінаційний струм. Показано, що найбільш імовірною причиною тунельного струму є наявність дислокацій невідповідності в шарі InGaAsP, генерованих у процесі вирощування гетеропереходів.
The double heterojunctions p⁺-InP/n-InGaAsP/ n-InP are grown by liquidphase epitaxy method and the relationship between technological regimes and their physical properties is established. It is shown that the use of zinc as an acceptor impurity in InP causes the formation of the diffusion p-n junction in n-InGaAsP. The carrier transport mechanisms are investigated in the temperature range 77-378 K and it is found that at temperature 77-250 K the tunnel current is realized at direct and reverse biases. At a temperature T > 290 K the generation-recombination current dominates. It is shown that most likely the reason for the tunneling current is the presence of mismatch dislocations in InGaAsP layer generated in heterojunctions during their growing.
uk
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
Properties of p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP double heterojunctions grown at different technological regimes
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
spellingShingle Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
Круковський, С.І.
Сукач, А.В.
Тетьоркін, В.В.
Мрихін, І.О.
Михащук, Ю.С.
title_short Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
title_full Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
title_fullStr Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
title_full_unstemmed Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів
title_sort властивості подвійних гетеропереходів p⁺-inp/n-ingaasp/n-inp, отриманих за різних технологічних режимів
author Круковський, С.І.
Сукач, А.В.
Тетьоркін, В.В.
Мрихін, І.О.
Михащук, Ю.С.
author_facet Круковський, С.І.
Сукач, А.В.
Тетьоркін, В.В.
Мрихін, І.О.
Михащук, Ю.С.
publishDate 2011
language Ukrainian
container_title Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Properties of p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP double heterojunctions grown at different technological regimes
description Методом рідинно-фазної епітаксії вирощено подвійні гетеропереходи p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP і з’ясовано взаємозв’язок між технологічними режимами вирощування та їх фізичними властивостями. Показано, що використання цинку як легувальної акцепторної домішки InP спричиняє формування дифузійного p–n переходу в шарі n-InGaAsP. Досліджено механізми проходження темнового струму в інтервалі температур 77–378 К і виявлено, що за температур 77–250 К реалізуються тунельні струми за прямих та зворотних напруг зміщення. За температур Т > 290 К переважає генераційно-рекомбінаційний струм. Показано, що найбільш імовірною причиною тунельного струму є наявність дислокацій невідповідності в шарі InGaAsP, генерованих у процесі вирощування гетеропереходів. The double heterojunctions p⁺-InP/n-InGaAsP/ n-InP are grown by liquidphase epitaxy method and the relationship between technological regimes and their physical properties is established. It is shown that the use of zinc as an acceptor impurity in InP causes the formation of the diffusion p-n junction in n-InGaAsP. The carrier transport mechanisms are investigated in the temperature range 77-378 K and it is found that at temperature 77-250 K the tunnel current is realized at direct and reverse biases. At a temperature T > 290 K the generation-recombination current dominates. It is shown that most likely the reason for the tunneling current is the presence of mismatch dislocations in InGaAsP layer generated in heterojunctions during their growing.
issn 0233-7577
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116700
citation_txt Властивості подвійних гетеропереходів p⁺-InP/n-InGaAsP/n-InP, отриманих за різних технологічних режимів / С.І. Круковський, А.В. Сукач, В.В. Тетьоркін, І.О. Мрихін, Ю.С. Михащук // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2011. — Вип. 46. — С. 74-80. — Бібліогр.: 19 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT krukovsʹkiisí vlastivostípodvíinihgeteroperehodívpinpningaaspninpotrimanihzaríznihtehnologíčnihrežimív
AT sukačav vlastivostípodvíinihgeteroperehodívpinpningaaspninpotrimanihzaríznihtehnologíčnihrežimív
AT tetʹorkínvv vlastivostípodvíinihgeteroperehodívpinpningaaspninpotrimanihzaríznihtehnologíčnihrežimív
AT mrihínío vlastivostípodvíinihgeteroperehodívpinpningaaspninpotrimanihzaríznihtehnologíčnihrežimív
AT mihaŝukûs vlastivostípodvíinihgeteroperehodívpinpningaaspninpotrimanihzaríznihtehnologíčnihrežimív
AT krukovsʹkiisí propertiesofpinpningaaspninpdoubleheterojunctionsgrownatdifferenttechnologicalregimes
AT sukačav propertiesofpinpningaaspninpdoubleheterojunctionsgrownatdifferenttechnologicalregimes
AT tetʹorkínvv propertiesofpinpningaaspninpdoubleheterojunctionsgrownatdifferenttechnologicalregimes
AT mrihínío propertiesofpinpningaaspninpdoubleheterojunctionsgrownatdifferenttechnologicalregimes
AT mihaŝukûs propertiesofpinpningaaspninpdoubleheterojunctionsgrownatdifferenttechnologicalregimes
first_indexed 2025-11-27T22:34:59Z
last_indexed 2025-11-27T22:34:59Z
_version_ 1850852923280457728