Акустична емісія світловипромінюючих структур та світлодіодів (огляд)

Узагальнено матеріал з дослідження явища акустичної емісії (АЕ) у світловипромінюючих структурах та світлодіодах на основі сполук GaN, GaP при струмовому навантаженні. Запропоновано використання комбінованого методу АЕ та мікроскопії видимого діапазону для виявлення люмінесцентних флуктуацій та дегр...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Date:2015
Main Authors: Власенко, О.І., Велещук, В.П., Киселюк, М.П., Власенко, З.К., Ляшенко, І.О., Ляшенко, О.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2015
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116748
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Акустична емісія світловипромінюючих структур та світлодіодів (огляд) / О.І. Власенко, В.П. Велещук, М.П. Киселюк, З.К. Власенко, І.О. Ляшенко, О.В. Ляшенко // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2015. — Вип. 50. — С. 5-16. — Бібліогр.: 35 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Узагальнено матеріал з дослідження явища акустичної емісії (АЕ) у світловипромінюючих структурах та світлодіодах на основі сполук GaN, GaP при струмовому навантаженні. Запропоновано використання комбінованого методу АЕ та мікроскопії видимого діапазону для виявлення люмінесцентних флуктуацій та деградації квантового виходу в режимі реального часу. Стаття є продовженням огляду, опублікованого у журналі «Оптоэлектроника и полупроводниковая техника», 2014 р. Material on research of the acoustic emission (AE) phenomenon in light-emitting structures and LEDs based on the GaN, GaP compounds has been generalized. The use of the combined method of AE and visible microscopy to detect luminescent fluctuations and quantum yield degradation processes in real time has been offered. This article has continued the review published in the journal “Оптоэлектроника и полупроводниковая техника”, 2014.
ISSN:0233-7577