Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано,...
Saved in:
| Published in: | Оптоэлектроника и полупроводниковая техника |
|---|---|
| Date: | 2016 |
| Main Authors: | , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Ukrainian |
| Published: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116781 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) / В.П. Велещук, О.І. Власенко, З.К. Власенко, Д.М. Хміль, О.М. Камуз, В.В. Борщ // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2016. — Вип. 51. — С. 31-42. — Бібліогр.: 75 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862535105408401408 |
|---|---|
| author | Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В. |
| author_facet | Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В. |
| citation_txt | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) / В.П. Велещук, О.І. Власенко, З.К. Власенко, Д.М. Хміль, О.М. Камуз, В.В. Борщ // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2016. — Вип. 51. — С. 31-42. — Бібліогр.: 75 назв. — укр. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Оптоэлектроника и полупроводниковая техника |
| description | Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано, що за люмінесцентними та електричними характеристиками мікроплазм можливі експресний неруйнівний контроль та діагностика ІnGaN/GaN потужних світлодіодів. Досліджено спектри електролюмінесценції мікроплазм та встановлено джерела мікроплазм в ІnGaN/GaN гетероструктурах.
Results of researching the controlled microplasma breakdown in the LED InGaN/GaN heterostructures and various GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO structures have been generalized. It has been ascertained that parameters of the microplasmas in LEDs are directly related with their functional parameters. It has been shown that non-destructive express control and diagnostics of power InGaN/GaN LEDs are possible when being based on the luminescent and electric parameters of microplasmas. The electroluminescence spectra of the microplasmas have been researched and the sources of microplasmas in the InGaN/GaN heterostructures have been determined.
|
| first_indexed | 2025-11-24T09:07:56Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-116781 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0233-7577 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-11-24T09:07:56Z |
| publishDate | 2016 |
| publisher | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В. 2017-05-15T14:52:06Z 2017-05-15T14:52:06Z 2016 Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) / В.П. Велещук, О.І. Власенко, З.К. Власенко, Д.М. Хміль, О.М. Камуз, В.В. Борщ // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника: Сб. научн. тр. — 2016. — Вип. 51. — С. 31-42. — Бібліогр.: 75 назв. — укр. 0233-7577 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116781 621.383:621.381.2 Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм світлодіодних структур прямо пов’язані з їх функціональними параметрами. Показано, що за люмінесцентними та електричними характеристиками мікроплазм можливі експресний неруйнівний контроль та діагностика ІnGaN/GaN потужних світлодіодів. Досліджено спектри електролюмінесценції мікроплазм та встановлено джерела мікроплазм в ІnGaN/GaN гетероструктурах. Results of researching the controlled microplasma breakdown in the LED InGaN/GaN heterostructures and various GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO structures have been generalized. It has been ascertained that parameters of the microplasmas in LEDs are directly related with their functional parameters. It has been shown that non-destructive express control and diagnostics of power InGaN/GaN LEDs are possible when being based on the luminescent and electric parameters of microplasmas. The electroluminescence spectra of the microplasmas have been researched and the sources of microplasmas in the InGaN/GaN heterostructures have been determined. Публікація містить результати досліджень, проведених при грантовій підтримці Державного фонду фундаментальних досліджень за конкурсним проектом Ф 64/16 – 2016, № держреєстрації 0116U003954. uk Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Оптоэлектроника и полупроводниковая техника Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) Non-destructive control and diagnostics of led GaN structures by using microplasmas (Review) Article published earlier |
| spellingShingle | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) Велещук, В.П. Власенко, О.І. Власенко, З.К. Хміль, Д.М. Камуз, О.М. Борщ, В.В. |
| title | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) |
| title_alt | Non-destructive control and diagnostics of led GaN structures by using microplasmas (Review) |
| title_full | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) |
| title_fullStr | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) |
| title_full_unstemmed | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) |
| title_short | Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) |
| title_sort | неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі gаn за мікроплазмами (огляд) |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116781 |
| work_keys_str_mv | AT veleŝukvp neruinívniikontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT vlasenkooí neruinívniikontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT vlasenkozk neruinívniikontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT hmílʹdm neruinívniikontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT kamuzom neruinívniikontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT borŝvv neruinívniikontrolʹtadíagnostikasvítlodíodnihstrukturnaosnovíganzamíkroplazmamioglâd AT veleŝukvp nondestructivecontrolanddiagnosticsofledganstructuresbyusingmicroplasmasreview AT vlasenkooí nondestructivecontrolanddiagnosticsofledganstructuresbyusingmicroplasmasreview AT vlasenkozk nondestructivecontrolanddiagnosticsofledganstructuresbyusingmicroplasmasreview AT hmílʹdm nondestructivecontrolanddiagnosticsofledganstructuresbyusingmicroplasmasreview AT kamuzom nondestructivecontrolanddiagnosticsofledganstructuresbyusingmicroplasmasreview AT borŝvv nondestructivecontrolanddiagnosticsofledganstructuresbyusingmicroplasmasreview |