Поверхневі наноструктури конденсату CdTe на склі та ситалі

• Published in: Журнал физики и инженерии поверхности
• Date: 2016
• Main Authors: Салій, Я.П., Биліна, І.С., Соколов, О.Л.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2016
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116807
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Поверхневі наноструктури конденсату CdTe на склі та ситалі / Я.П. Салій, І.С. Биліна, О.Л. Соколов // Журнал физики и инженерии поверхности. — 2016. — Т. 1, № 1. — С. 42-51. — Бібліогр.: 32 назв. — укр.

Виконано дослідження структур на поверхні конденсату CdTe, осадженого методом гарячої стінки на підкладках із скла та ситалу. З топограм атомно-силового мікроскопа методом водорозділу одержано нормальні h і латеральні D розміри поверхневих об’єктів та побудовано їх гістограми розподілу. Проаналізовано залежності середніх значень нормальних і латеральних розмірів та фактора форми кристалітів від технологічних умов: часу осадження, температур підкладки і випарника. Підтверджено кореневу квадратичну залежність середніх розмірів від тривалості осадження. Выполнены исследования структур на поверхности конденсата CdTe, осажденного методом горячей стенки на подложках из стекла и ситалла. Из топограмм атомно-силового микроскопа способом водораздела получено нормальные и латеральные размеры поверхностных объектов и построены их гистограммы распределения. Проанализированы зависимости средних значений нормальных и латеральных размеров, а также фактора формы кристаллитов от технологических условий: времени осаждения, температур подложки и испарителя. Подтверждено корневую квадратичную зависимость средних размеров от продолжительности осаждения The research of structures on the surface of condensate CdTe, deposited by a method hot wall on substrates of glass and ceramics, are investigated. Normal and lateral sizes of surface objects are obtained from the topography of an atomic force microscope by a method watershed and their distribution histogram are constructed. The depending of mean values of normal, lateral size and form factor of crystallites from technological conditions: deposition time, substrate temperature and vaporization temperature are analyzed. The root quadratic dependence of the average sizes on the duration deposition is confirmed.