Beketov, G. (2011). Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Beketov, G.V. "Enhanced 2D Plotting Method for Scanning Probe Microscopy Imaging." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2011.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Beketov, G.V. "Enhanced 2D Plotting Method for Scanning Probe Microscopy Imaging." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2011.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.