Buchumschlag

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging

An enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging implementing a gradient-based value mapping for pseudocolor images and its application to studies of epitaxial layer surface morphology is presented. It is demonstrated that this method is capable of revealing the finest features o...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2011
1. Verfasser:	Beketov, G.V.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117627
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging / G.V. Beketov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2011. — Т. 14, № 1. — С. 80-87. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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