Зображення обкладинки

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging

An enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging implementing a gradient-based value mapping for pseudocolor images and its application to studies of epitaxial layer surface morphology is presented. It is demonstrated that this method is capable of revealing the finest features o...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2011
Автор:	Beketov, G.V.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2011
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117627
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging / G.V. Beketov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2011. — Т. 14, № 1. — С. 80-87. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: H. M. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)

Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by scanning probe microscopy methods
за авторством: O. I. Synhaivska, та інші
Опубліковано: (2016)

Microanalysis of magnetic structure of yttrium-iron garnet films by using the scanning probe microscopy methods
за авторством: Synhaivska, O.I., та інші
Опубліковано: (2016)

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
за авторством: Rengevych, O.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Domain structure formation by using Scanning Probe Microscopy: equilibrium polarization distribution and effective piezoelectric response calculations
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2009)

Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)

New materials for luminescent scanning near-field microscopy
за авторством: Chornii, V., та інші
Опубліковано: (2013)

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
за авторством: O. V. Rengevych, та інші
Опубліковано: (2014)

Laser scanning microscopy of HTS films and devices (Review Article)
за авторством: Zhuravel, A.P., та інші
Опубліковано: (2006)

Mechanical scanning probe nanolithography: modeling and application
за авторством: P. M. Lytvyn, та інші
Опубліковано: (2012)

Mechanical scanning probe nanolithography: modeling and application
за авторством: Lytvyn, P.M., та інші
Опубліковано: (2012)

The possibility to determine a constant of spin-orbit interaction by scanning tunneling microscopy method
за авторством: N. V. Khotkevich, та інші
Опубліковано: (2016)

In situ scanning electron microscopy study of fatigue crack propagation
за авторством: Jacobsson, L., та інші
Опубліковано: (2008)

Scanning near-field optical microscopy of magnetic structures in magnetic films
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Scanning Electron Microscopy Provides a Novel Method to Map Abdominal Musculature in Archaeognatha (Insecta)
за авторством: Matushkina, N.
Опубліковано: (2025)

Scanning Electron Microscopy Provides a Novel Method to Map Abdominal Musculature in Archaeognatha (Insecta)
за авторством: Matushkina, N.
Опубліковано: (2025)

Study of probe methods for fabrication of units for nanoelectronic devices and diagnostic technique using electrostatic force microscopy
за авторством: N. I. Khodakovskij, та інші
Опубліковано: (2011)

Indium induced nanostructures on In₄Se₃(100) surface studied by scanning tunneling microscopy
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2013)

New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

New features of the Ge(111) surface with coexisting s(2Ч8) and 2Ч2 reconstructions investigated by scanning tunneling microscopy
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Boron-doped diamond single crystals for probes of the high-vacuum tunneling microscopy
за авторством: A. P. Chepugov, та інші
Опубліковано: (2013)

The exact solution of self-consistent equations in the scanning near-field optic microscopy problem
за авторством: Lozovski, V., та інші
Опубліковано: (1999)

Investigation of Ag2O–B2O3-system glass by means of the method of scanning tunnelling microscopy with semicon-ducting diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning electron microscopy in the study of the structures of eutectic alloys of iron and chromium with refractory borides
за авторством: Ye. Panarin
Опубліковано: (2019)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)

Subpixel scanning for spectrum image analysis
за авторством: S. A. Yegorov, та інші
Опубліковано: (2024)

SUBPIXEL SCANNING FOR SPECTRUM IMAGE ANALYSIS
за авторством: Yegorov, S. A., та інші
Опубліковано: (2024)

New directions in point-contact spectroscopy based on scanning tunneling microscopy techniques (Review Article)
за авторством: Tartaglini, E., та інші
Опубліковано: (2013)

Atomic structures and nanoscale electronic states on the surface of MgB2 superconductor observed by scanning tunneling microscopy and spectroscopy
за авторством: A. Sugimoto, та інші
Опубліковано: (2019)

Wet-mode scanning electron microscopy as an instrument for studies of biogeochemical processes of fungal biominerals formation
за авторством: M. A. Fomina, та інші
Опубліковано: (2015)

Theoretical study of tunnel current behaviour in scanning probe microscope with diamond tip
за авторством: V. Grushko, та інші
Опубліковано: (2011)

Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments
за авторством: Gorbach, T.Ya., та інші
Опубліковано: (1998)

Scanning-tunneling microscopy/spectroscopy and break-junction tunneling spectroscopy of FeSe₁–xTex
за авторством: Ekino, T., та інші
Опубліковано: (2013)

Multifunction Scanning Probe Microscope with Diamond Tip. Nanotechnological Research at Ambient Conditions
за авторством: O. H. Lysenko
Опубліковано: (2012)

A suggestion of the graphene/Ge(111) structure based on ultra-high vacuum scanning tunneling microscopy investigation
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2016)

Features of mechanical scanning probe lithography on graphene oxide and As(Ge)Se chalcogenide resist
за авторством: P. M. Lytvyn, та інші
Опубліковано: (2018)