Fodchuk, I., Gutsuliak, I., Zaplitniy, R., Balovsyak, S., Yaremiy, I., Bonchyk, O., . . . Lytvyn, P. (2013). Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Fodchuk, I.M, I.I Gutsuliak, R.A Zaplitniy, S.V Balovsyak, I.P Yaremiy, O.Yu Bonchyk, G.V Savitskiy, I.M Syvorotka, та P.M Lytvyn. "Magnetic Force Microscopy of YLaFeO Films Implanted by High Dose of Nitrogen Ions." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2013.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Fodchuk, I.M, et al. "Magnetic Force Microscopy of YLaFeO Films Implanted by High Dose of Nitrogen Ions." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2013.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.