Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and сathodoluminescence in Si/SiO₂ structure
Impurity states in Si/SiO₂ structure have been studied using cathodoluminescence (CL). It has been found that intrinsic structure defects in Si/SiO2 are sensitive to the action of magnetic field, which can be revealed due to changes in Si/SiO₂ optical properties. The most sensitive to magnetic...
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| Veröffentlicht in: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Datum: | 2011 |
| Hauptverfasser: | Steblenko, L.P., Koplak, O.V., Syvorotka, I.I., Kravchenko, V.S. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2011
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117754 |
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| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and сathodoluminescence in Si/SiO₂ structure / L.P. Steblenko, O.V. Koplak, I.I. Syvorotka, V.S. Kravchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2011. — Т. 14, № 3. — С. 334-338. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |
Institution
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