Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and сathodoluminescence in Si/SiO₂ structure
Impurity states in Si/SiO₂ structure have been studied using
 cathodoluminescence (CL). It has been found that intrinsic structure defects in Si/SiO2
 are sensitive to the action of magnetic field, which can be revealed due to changes in
 Si/SiO₂ optical properties. The mos...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2011 |
| Автори: | Steblenko, L.P., Koplak, O.V., Syvorotka, I.I., Kravchenko, V.S. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2011
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117754 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and сathodoluminescence in Si/SiO₂ structure / L.P. Steblenko, O.V. Koplak, I.I. Syvorotka, V.S. Kravchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2011. — Т. 14, № 3. — С. 334-338. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and sathodoluminescence in Si/SiO2 structure
за авторством: L. P. Steblenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: L. P. Steblenko, та інші
Опубліковано: (2011)
The Influence of Plastic Deformation on the Defect-Impurity State and Magnetic Properties of Silicon (Cz-Si)
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013)
Role of silicon oxide defects in emission process of Si-SiO₂ systems
за авторством: Baran, M., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Baran, M., та інші
Опубліковано: (2003)
Modification of radiation defects in Si and Ge by background impurity
за авторством: A. P. Dolgolenko
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. P. Dolgolenko
Опубліковано: (2013)
Changes in the state of paramagnetic centers and lattice parameter of micro-structured Si under the influence of weak magnetic field
за авторством: Trachevsky, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Trachevsky, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)
Synthesis of SiO₂ matrices doped with some inorganic compounds
за авторством: Blank, T.A., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Blank, T.A., та інші
Опубліковано: (2009)
Селективная спектроскопия примесных ионов Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅ , Gd₂SiO₅ , Lu₂SiO₅
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2000)
Микроскопическая природа оптических центров Pr³⁺ в кристаллах Y₂SiO₅, Lu₂SiO₅, Gd₂SiO₅
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2002)
Electron states at the Si–SiO₂ boundary (Review)
за авторством: Primachenko, V.E., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Primachenko, V.E., та інші
Опубліковано: (2005)
Electron transport through nanocomposite SiO₂(Si) films containing Si nanocrystals
за авторством: Bratus, O.L., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Bratus, O.L., та інші
Опубліковано: (2016)
Interaction of Red Blood Cells with Fumed SiO2, Al2O3/SiO2 and TiO2/SiO2 by Light Scattering Measurements
за авторством: Gerashchenko, I.I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Gerashchenko, I.I., та інші
Опубліковано: (2010)
Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2012)
Проявление квазисимметрии катионных узлов Gd₂SiO₅, ₂SiO₅ и Lu₂SiO₅ в спектрах примесного иона Pr³⁺
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Малюкин, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2001)
Changes in the state of paramagnetic centers and lattice parameter of micro-structured Si under the influence of weak magnetic field
за авторством: V. V. Trachevsky, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. V. Trachevsky, та інші
Опубліковано: (2010)
Transformation of SiOx films into nanocomposite SiO₂(Si) films under thermal and laser annealing
за авторством: Steblova, O.V., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Steblova, O.V., та інші
Опубліковано: (2014)
Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012)
Modification of properties of the glass-Si₃N₄-Si-SiO₂ structure at laser treatment
за авторством: Konakova, R.V., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Konakova, R.V., та інші
Опубліковано: (2009)
Cyanine dye excimer formation in nanoporou SiO₂ matrices
за авторством: Gnap, B.A., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Gnap, B.A., та інші
Опубліковано: (2013)
Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO₂ structure
за авторством: Yatsunskiy, I.R., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Yatsunskiy, I.R., та інші
Опубліковано: (2010)
Роль поверхности в формировании свойств пирогенных нанокомпозитов SiO₂-Al₂O₃, SiO₂-ТіO₂ и Al₂O₃-SiO₂-ТіO₂
за авторством: Горбик, П.П., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Горбик, П.П., та інші
Опубліковано: (2006)
Electron transport through nanocomposite SiO2(Si) films containing Si nanocrystals
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: O. L. Bratus, та інші
Опубліковано: (2016)
Properties of SiO₂-GaAs and Au-Ti-SiO₂-GaAs structures used in production of transmission lines
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2002)
Multimodal size distribution of Si nanoclusters in SiO₂ as manifestation of interaction in the space of sizes
за авторством: Blonskiy, I.V., та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: Blonskiy, I.V., та інші
Опубліковано: (1998)
Si as dopant impurity in CdTe
за авторством: Fochuk, P.M., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Fochuk, P.M., та інші
Опубліковано: (2005)
Complex destruction of near-surface silicon layers of Si-SiO2 structure
за авторством: I. R. Yatsunskiy, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: I. R. Yatsunskiy, та інші
Опубліковано: (2010)
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate
за авторством: Bortchagovsky, E.G., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Bortchagovsky, E.G., та інші
Опубліковано: (2012)
Дослідження взаємодії еритроцитів з пірогенними оксидами SiO2, Al2O3/SiO2 та TiO2/SiO2 шляхом вимірювання параметрів світлорозсіювання
за авторством: Gerashchenko, I. I., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Gerashchenko, I. I., та інші
Опубліковано: (2010)
Water bounding peculiarities in SiO2 / laevomycetin and SiO2 / laevomycetin / AM1 composite systems
за авторством: T. V. Krupskaja, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: T. V. Krupskaja, та інші
Опубліковано: (2018)
Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
Molecular dynamics calculation of thermal conductivity in a-SiO2 and an a-SiO2-based nanocomposite
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Kuryliuk, та інші
Опубліковано: (2016)
Особенности связывания воды в композитних системах SiO₂ / левомицетин и SiO₂ / левомицетин / АМ1
за авторством: Крупская, Т.В., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Крупская, Т.В., та інші
Опубліковано: (2018)
Effect of pressure on the properties of Al SiO2 n-Si Ni structures
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. I. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2012)
Effect of pressure on the properties of Al-SiO₂-n-Si<Ni> structures
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Vlasov, S.I., та інші
Опубліковано: (2012)
Conductivity of the Bi₁₂SiO₂₀ thin films
за авторством: Plyaka, S.N., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Plyaka, S.N., та інші
Опубліковано: (1999)
Relaxation of photodarkening in SiO-As₂(S,Se)₃ composite layers
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (1999)
Transformation of SiOx films into nanocomposite SiO2(Si) films under thermal and laser annealing
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. V. Steblova, та інші
Опубліковано: (2014)
Synthesis of luminescent Gd₂SiO₅:Ce³⁺ films by sol-gel method
за авторством: Masalov, A.A., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Masalov, A.A., та інші
Опубліковано: (2011)
Thermal conductivity of argon–SiO₂ cryocrystal nanocomposite
за авторством: Nikonkov, R.V., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Nikonkov, R.V., та інші
Опубліковано: (2016)
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate
за авторством: E. G. Bortchagovsky, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. G. Bortchagovsky, та інші
Опубліковано: (2012)
Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO₂—Si»
за авторством: Кулинич, О.А., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Кулинич, О.А., та інші
Опубліковано: (2012)
Схожі ресурси
-
Effect of magnetic field on the reconstruction of the defect-impurity state and sathodoluminescence in Si/SiO2 structure
за авторством: L. P. Steblenko, та інші
Опубліковано: (2011) -
The Influence of Plastic Deformation on the Defect-Impurity State and Magnetic Properties of Silicon (Cz-Si)
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013) -
Role of silicon oxide defects in emission process of Si-SiO₂ systems
за авторством: Baran, M., та інші
Опубліковано: (2003) -
Modification of radiation defects in Si and Ge by background impurity
за авторством: A. P. Dolgolenko
Опубліковано: (2013) -
Changes in the state of paramagnetic centers and lattice parameter of micro-structured Si under the influence of weak magnetic field
за авторством: Trachevsky, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)