Brus, V., Kovalyuk, Z., Parfenyuk, O., & Vakhnyak, N. (2011). Comparison of optical properties of TiO₂ thin films prepared by reactive magnetron sputtering and electron-beam evaporation techniques. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Brus, V.V, Z.D Kovalyuk, O.A Parfenyuk, та N.D Vakhnyak. Comparison of Optical Properties of TiO₂ Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering and Electron-beam Evaporation Techniques. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Brus, V.V, et al. Comparison of Optical Properties of TiO₂ Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering and Electron-beam Evaporation Techniques. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.