APA (7th ed.) Citation

Brus, V., Kovalyuk, Z., Parfenyuk, O., & Vakhnyak, N. (2011). Comparison of optical properties of TiO₂ thin films prepared by reactive magnetron sputtering and electron-beam evaporation techniques. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Brus, V.V, Z.D Kovalyuk, O.A Parfenyuk, and N.D Vakhnyak. Comparison of Optical Properties of TiO₂ Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering and Electron-beam Evaporation Techniques. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.

MLA (8th ed.) Citation

Brus, V.V, et al. Comparison of Optical Properties of TiO₂ Thin Films Prepared by Reactive Magnetron Sputtering and Electron-beam Evaporation Techniques. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2011.