Зображення обкладинки

Characterization of nanoscaled films on flat and grating substrates as some elements of plasmonics

The optical properties of multilayer structures consisting of dielectric,
 conductivity-oxide and nanoscaled metal layers, deposited on the planar substrates
 (witness samples) and surface relief ones (diffraction gratings) with micro- and nanoscale
 sizes, are investigated b...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2007
ISSN:1560-8034
Автори: Dmitruk, N.L., Mayeva, O.I., Korovin, A.V., Mamykin, S.V., Sosnova, M.V., Yastrubchak, O.B.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2007
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117917
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Characterization of nanoscaled films on flat and grating substrates as some elements of plasmonics / N.L. Dmitruk, O.I. Mayeva, A.V. Korovin, S.V. Mamykin, M.V. Sosnova, O.B. Yastrubchak // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 2. — С. 62-71. — Бібліогр.: 30 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Схожі ресурси