Balovsyak, S., Fodchuk, I., & Lytvyn, P. (2003). Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Balovsyak, S.V, I.M Fodchuk, та P.M Lytvyn. "Determination of Surface Parameters of Solids by Methods of X-ray Total External Reflection." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2003.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Balovsyak, S.V, et al. "Determination of Surface Parameters of Solids by Methods of X-ray Total External Reflection." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.