Зображення обкладинки

Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection

The series of GaAs and SiO₂ samples with the specially prepared one- and two-dimensional surface reliefs have been investigated by the methods of integral and differential curve total external reflection of X-rays. The direct and inverse problem was solved, taking into consideration data obtained by...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2003
Автори:	Balovsyak, S.V., Fodchuk, I.M., Lytvyn, P.M.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117940
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection / S.V. Balovsyak, I.M. Fodchuk, P.M. Lytvyn // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 1. — С. 41-46. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016)

X-ray method for determination of mineral constituent in solid fuel
за авторством: Mikhailov, I.F., та інші
Опубліковано: (2014)

Kiloparsec jet physical parameters determined by their radio and X-ray emission
за авторством: M. S. Butuzova
Опубліковано: (2014)

KILOPARSEC JET PHYSICAL PARAMETERS DETERMINED BY THEIR RADIO AND X-RAY EMISSION
за авторством: Butuzova, M. S.
Опубліковано: (2014)

Determination of the Parameters of Kiloparsec Jets at Large Redshifts by their Radio and X-ray Emission
за авторством: Butuzova, M. S.
Опубліковано: (2012)

An Instrument for Control of Parameters of X-ray Emitters
за авторством: V. D. Ryzhikov, та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning X-ray systems based on miniature solid-state transducers
за авторством: V. O. Troitskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector
за авторством: Mikhailov, I.F., та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray parameters of nanocrystalline microstructure titanium obtained by cryodeformation
за авторством: Ju. M. Plotnikova, та інші
Опубліковано: (2016)

The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)

Determination of the nuclear radius parameter using the γ-ray spectrometer
за авторством: P. N. Patil, та інші
Опубліковано: (2021)

X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)

Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)

Orientational order parameter in α-N₂ from x-ray data
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2002)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

RF-cavity for the X-ray generator NESTOR
за авторством: Androsov, V.P., та інші
Опубліковано: (2007)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

Determination of structural homogeneity of synthetic diamonds from analysis of Kikuchi lines intensity distribution
за авторством: I. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

Determination of structural homogeneity of synthetic diamonds from analysis of Kikuchi lines intensity distribution
за авторством: Fodchuk, I., та інші
Опубліковано: (2010)

Sources of the x-rays based on compton scattering
за авторством: Androsov, V.P., та інші
Опубліковано: (2003)

Effect of X-ray suppression system upon parameters of electrostatic accelerator ion beam
за авторством: I. G. Ignatev, та інші
Опубліковано: (2014)

Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)

Band structure of [100] surface of Cd₁₋x Mn x Te diluted magnetic semiconductor
за авторством: Melnichuk, S.V., та інші
Опубліковано: (2000)

Spectra of pyroelectric X-ray generator
за авторством: Nagaychenko, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2003)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Portable pulse X-ray apparatus with gas insulation
за авторством: Avilov, E.A., та інші
Опубліковано: (2001)

Calibration of X-ray space telescopes
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Features of X-ray fluorescence analysis for determining the composition of vacuum arc coatings of nitrides
за авторством: E. N. Reshetnjak
Опубліковано: (2013)

Parametric X-ray radiation in polycrystals
за авторством: Alekseev, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)

The start of X-ray generator NESTOR comissioning
за авторством: Androsov, V., та інші
Опубліковано: (2013)

Scattered X-ray radiation algorithmic compensation procedure in the X-ray imaging as an alternative to hardware methods
за авторством: Yu. Danyk, та інші
Опубліковано: (2021)

Intensive X-ray source optimization
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2005)

Frequency of parametric X-ray radiation
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2023)

Portable X-ray TV system
за авторством: V. A. Troitskij
Опубліковано: (2013)

Combi-cryostat for x-ray diffractometer
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)

Thermoelectric Coolers for X-Ray Detectors
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2020)

Radio and X-ray Images of Extragalactic Sources
за авторством: Bannikova, E. Yu., та інші
Опубліковано: (2013)

Mathematical Methods of X-ray Computed Tomography
за авторством: N. O. Tuliakova, та інші
Опубліковано: (2019)

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
за авторством: O. V. Rengevych, та інші
Опубліковано: (2014)