Buchumschlag

Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry

A multiple angle ellipsometric method is used to investigate thin film layers on common substrates (gadolinium gallium garnet-GGG, sapphire-Al₂O₃, and glass ceramic sitall) for functional material films. The method evaluates fundamental optical constants and thicknesses of the layers. Dielectric fun...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2003
Hauptverfasser:	Belyaeva, A.I., Galuza, A.A., Kudlenko, A.D.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117962
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry / A.I. Belyaeva, A.A. Galuza, A.D. Kudlenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 1. — С. 81-85. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
von: K. M. Al-Adamat, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
von: K. M. Al-Adamat, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
von: Belyaeva, A.I., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
von: T. S. Rozouvan, et al.
Veröffentlicht: (2015)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
von: Rozouvan, T.S., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
von: T. A. Mishakova, et al.
Veröffentlicht: (2011)

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
von: Dmitruk, N.L., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Surface energy anisotropy for the low-index crystal surfaces of the textured polycrystalline BCC tungsten: experimental and theoretical analysis
von: Belyaeva, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
von: Odarych, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Two-layer films Cu/Ni nanoparticles/substrate
von: V. O. Zlenko, et al.
Veröffentlicht: (2011)

The optical characteristics of contaminating films on Mo, SS and Cu mirror samples exposed in plasma devices
von: Bondarenko, V.N., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
von: Kravets, V.G., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
von: A. L. Yampolskiy, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
von: Yampolskiy, A.L., et al.
Veröffentlicht: (2018)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
von: V. G. Kravets, et al.
Veröffentlicht: (2017)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
von: Kravets, V.G., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals
von: Filipov, Y.V., et al.
Veröffentlicht: (2004)

XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation
von: Tkachenko, V.F., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate
von: Odarych, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
von: Pogrebnyak, A.D., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Stimulation of the diamond nucleation on silicon substrates with a layer of polymeric precursor in deposition of diamond films by microwave plasma
von: V. S. Sedov, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Synthesis of optimal multilayer periodic systems: multicriterial approach and realization of synthesized system
von: Belyaeva, A., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Thermal grain boundary grooves formation in tungsten under recrystallization
von: Belyaeva, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2017)

VUV stimulated solid-phase reactions on the surface on Ni nano-layers on Si substrate
von: Mikhailov, I.F., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Influence of Depletion Transition Layers on Surface Polaritons in Semiconductor Films
von: Beletskij, N. N., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Lowering the density of dislocations in heteroepitaxial III-nitride layers: Effect of sapphire substrate treatment (review)
von: Parphenyuk, P.V., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Compact laser probe for surface acoustic waves
von: V. V. Semenov, et al.
Veröffentlicht: (2010)

Compact laser probe for surface acoustic waves
von: Semenov, V.V., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Transport properties of surface electrons over structurized substrate
von: A. V. Smorodin, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Vortex molecules in thin films of layered superconductors
von: Samokhvalov, A.V., et al.
Veröffentlicht: (2018)

Degeneracy effect of dynamical properties of quasi-particles of electronic origin in semiconductor materials
von: Suprun, A.D., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Effect of substrate temperature on crystalline structure and galvanomagnetic characteristics of Ni—Cu alloy thin films
von: Loboda, V.B., et al.
Veröffentlicht: (2006)

On the prospects of using porous indium phosphide as substrates for indium nitride films
von: Ja. A. Sychikova
Veröffentlicht: (2010)

Interface properties of Bi-contained iron garnet films/GGG-substrates
von: Berzhansky, V.N., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Melting of polycrystalline lead and bismuth films on amorphous carbon substrates
von: V. N. Sukhov, et al.
Veröffentlicht: (2012)

A new control unit for probing ion beam forming in HIBP diagnostic systems
von: Zhezhera, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Sensor properties of polyaniline films on polyethylene terephthalate substrate
von: Yu. Stetsiv
Veröffentlicht: (2017)

Structure and morphology of polypyrrole films chemically deposited on the polyethylene terephthalate substrates
von: M. M. Yatsyshyn, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Investigation of origination and development of the surface deformation relief of crystalline materials by laser radiation
von: Badiyan, E.E., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Surface plasmon resonance sensor based on polymer substrate
von: S. O. Kostiukevych, et al.
Veröffentlicht: (2016)