Зображення обкладинки

Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry

A multiple angle ellipsometric method is used to investigate thin film layers on common substrates (gadolinium gallium garnet-GGG, sapphire-Al₂O₃, and glass ceramic sitall) for functional material films. The method evaluates fundamental optical constants and thicknesses of the layers. Dielectric fun...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2003
Автори:	Belyaeva, A.I., Galuza, A.A., Kudlenko, A.D.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117962
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry / A.I. Belyaeva, A.A. Galuza, A.D. Kudlenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 1. — С. 81-85. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (1999)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015)

Detection of interaction between the nanoparticles on surface using ellipsometry
за авторством: T. A. Mishakova, та інші
Опубліковано: (2011)

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2003)

Surface energy anisotropy for the low-index crystal surfaces of the textured polycrystalline BCC tungsten: experimental and theoretical analysis
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2017)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Two-layer films Cu/Ni nanoparticles/substrate
за авторством: V. O. Zlenko, та інші
Опубліковано: (2011)

The optical characteristics of contaminating films on Mo, SS and Cu mirror samples exposed in plasma devices
за авторством: Bondarenko, V.N., та інші
Опубліковано: (2008)

Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2017)

Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2004)

XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2011)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2005)

Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
за авторством: Pogrebnyak, A.D., та інші
Опубліковано: (2011)

Stimulation of the diamond nucleation on silicon substrates with a layer of polymeric precursor in deposition of diamond films by microwave plasma
за авторством: V. S. Sedov, та інші
Опубліковано: (2012)

Synthesis of optimal multilayer periodic systems: multicriterial approach and realization of synthesized system
за авторством: Belyaeva, A., та інші
Опубліковано: (2006)

VUV stimulated solid-phase reactions on the surface on Ni nano-layers on Si substrate
за авторством: Mikhailov, I.F., та інші
Опубліковано: (2006)

Thermal grain boundary grooves formation in tungsten under recrystallization
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2017)

Influence of Depletion Transition Layers on Surface Polaritons in Semiconductor Films
за авторством: Beletskij, N. N., та інші
Опубліковано: (2012)

Lowering the density of dislocations in heteroepitaxial III-nitride layers: Effect of sapphire substrate treatment (review)
за авторством: Parphenyuk, P.V., та інші
Опубліковано: (2016)

Compact laser probe for surface acoustic waves
за авторством: V. V. Semenov, та інші
Опубліковано: (2010)

Compact laser probe for surface acoustic waves
за авторством: Semenov, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Transport properties of surface electrons over structurized substrate
за авторством: A. V. Smorodin, та інші
Опубліковано: (2012)

Vortex molecules in thin films of layered superconductors
за авторством: Samokhvalov, A.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Degeneracy effect of dynamical properties of quasi-particles of electronic origin in semiconductor materials
за авторством: Suprun, A.D., та інші
Опубліковано: (2012)

Effect of substrate temperature on crystalline structure and galvanomagnetic characteristics of Ni—Cu alloy thin films
за авторством: Loboda, V.B., та інші
Опубліковано: (2006)

On the prospects of using porous indium phosphide as substrates for indium nitride films
за авторством: Ja. A. Sychikova
Опубліковано: (2010)

Interface properties of Bi-contained iron garnet films/GGG-substrates
за авторством: Berzhansky, V.N., та інші
Опубліковано: (2010)

A new control unit for probing ion beam forming in HIBP diagnostic systems
за авторством: Zhezhera, A.I., та інші
Опубліковано: (2016)

Melting of polycrystalline lead and bismuth films on amorphous carbon substrates
за авторством: V. N. Sukhov, та інші
Опубліковано: (2012)

Investigation of origination and development of the surface deformation relief of crystalline materials by laser radiation
за авторством: Badiyan, E.E., та інші
Опубліковано: (2015)

Characterization of rheological properties of nanobioobjects surface by spin probes
за авторством: L. V. Ivanov, та інші
Опубліковано: (2012)

Probing the Fermi surface by positron annihilation and Compton scattering
за авторством: S. B. Dugdale
Опубліковано: (2014)

Probing the Fermi surface by positron annihilation and Compton scattering
за авторством: Dugdale, S.B.
Опубліковано: (2014)