Baran, M., Bulakh, B., Korsunska, N., Khomenkova, L., Yukhymchuk, V., & Sheinkman, M. (2003). Role of silicon oxide defects in emission process of Si-SiO₂ systems. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Baran, M., B. Bulakh, N. Korsunska, L. Khomenkova, V. Yukhymchuk, та M. Sheinkman. "Role of Silicon Oxide Defects in Emission Process of Si-SiO₂ Systems." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2003.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Baran, M., et al. "Role of Silicon Oxide Defects in Emission Process of Si-SiO₂ Systems." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.