Dmitruk, N., Fursenko, O., Kondratenko, O., & Romanyuk, V. (2003). Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Dmitruk, N.L, O.V Fursenko, O.S Kondratenko, та V.R Romanyuk. "Optical Characterization of Thin Au Films by Standard and Polaritonic Ellipsometry." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2003.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Dmitruk, N.L, et al. "Optical Characterization of Thin Au Films by Standard and Polaritonic Ellipsometry." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2003.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.