Зображення обкладинки

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry

This work is aimed at optical characterization of thin Au films by multiple-angle-of-incidence reflectance ellipsometry at the fixed wavelength (632.8 nm) in standard and attenuated total reflection (ATR) modes in contact with different dielectric media (water, alcohol and air). The comparative expe...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2003
Автори:	Dmitruk, N.L., Fursenko, O.V., Kondratenko, O.S., Romanyuk, V.R.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118041
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry / N.L. Dmitruk, O.V. Fursenko, O.S. Kondratenko, V.R. Romanyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 3. — С. 349-353. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Ellipsometric Properties of Thin Films of Molybdenum at the Excitation of Surface Polaritons
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2014)

Optical efficiency of Ag and Au nanoparticles
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2010)

Fabrication and conductivity of thin PEDOT:PSS-CNT composite films
за авторством: Mamykin, S.V., та інші
Опубліковано: (2021)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: V. G. Kravets, та інші
Опубліковано: (2017)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2017)

Optical Properties and XPS-Characterization of Ag/Au Bimetallic Nanoparticles in Porous Sol-Gel Silica Films
за авторством: Eremenko, A.M., та інші
Опубліковано: (2010)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
за авторством: M. V. Vuichyk, та інші
Опубліковано: (2014)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
за авторством: Vuichyk, M.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Optical efficiency of Ag and Au nanoparticles
за авторством: N. L. Dmitruk, та інші
Опубліковано: (2010)

Effect of nanosize metal overlayer on C₆₀ thin film optical parameters near fundamental absorption edge
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2012)

Characterization and optical properties of organic dye films as recording media
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2000)

Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
за авторством: Shybiko, Ya.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Optical properties of ion implanted thin Ni films on lithium niobate
за авторством: Lysiuk, V.O., та інші
Опубліковано: (2011)

Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
за авторством: Severynov, V.L., та інші
Опубліковано: (2005)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: Yampolskiy, A.L., та інші
Опубліковано: (2018)

Optical properties of thin gold film
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2000)

Optical properties of Ge-As-S thin films
за авторством: Tolmachov, I.D., та інші
Опубліковано: (2009)

Optical properties of thin metal films
за авторством: Kovalenko, S.A.
Опубліковано: (1999)

Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (2003)

Spatial characterization of the edge barrier in wide superconducting thin films
за авторством: A. G. Sivakov, та інші
Опубліковано: (2018)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: Lendel, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008)

Optical properties of dysprosium monoantimonide thin films
за авторством: I. G. Tabatadze, та інші
Опубліковано: (2013)

Optical properties of dysprosium monoantimonide thin films
за авторством: Tabatadze, I.G., та інші
Опубліковано: (2013)

Optical size effects in thin gold films
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2002)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: H. H. Amer, та інші
Опубліковано: (2011)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
за авторством: Amer, H.H., та інші
Опубліковано: (2011)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Influence of Annealing Environment on the Ni Diffusion Rate to Surface of the Thin-Film Au/Ni System
за авторством: S. I. Sydorenko, та інші
Опубліковано: (2012)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)

Characterization of nanoscaled films on flat and grating substrates as some elements of plasmonics
за авторством: Dmitruk, N.L., та інші
Опубліковано: (2007)

Spectral distribution of photoelectric quantum yield of thin-film Au-CdTe diode structure
за авторством: Grushko, E.V., та інші
Опубліковано: (2007)

Modification of optical properties and structure of thin films for enhancing absorption
за авторством: V. O. Lysiuk
Опубліковано: (2014)

Modification of optical properties and structure of thin films for enhancing absorption
за авторством: Lysiuk, V.O.
Опубліковано: (2014)

Influence of Depletion Transition Layers on Surface Polaritons in Semiconductor Films
за авторством: Beletskij, N. N., та інші
Опубліковано: (2012)

Deposition and optical absorption studies of Cu–As–S thin films
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2018)

The electrophysical and optical properties of gadolinium monoantimonide thin films
за авторством: Z. Jabua, та інші
Опубліковано: (2012)

Structural, optical, and photovoltaic properties of tetracene thin films
за авторством: M. P. Horishnyi, та інші
Опубліковано: (2016)