Buchumschlag

Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry

This work is aimed at optical characterization of thin Au films by multiple-angle-of-incidence reflectance ellipsometry at the fixed wavelength (632.8 nm) in standard and attenuated total reflection (ATR) modes in contact with different dielectric media (water, alcohol and air). The comparative expe...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2003
Hauptverfasser:	Dmitruk, N.L., Fursenko, O.V., Kondratenko, O.S., Romanyuk, V.R.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118041
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Optical characterization of thin Au films by standard and polaritonic ellipsometry / N.L. Dmitruk, O.V. Fursenko, O.S. Kondratenko, V.R. Romanyuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 3. — С. 349-353. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
von: K. M. Al-Adamat, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
von: K. M. Al-Adamat, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Ellipsometric Properties of Thin Films of Molybdenum at the Excitation of Surface Polaritons
von: V. V. Lendel, et al.
Veröffentlicht: (2014)

Optical efficiency of Ag and Au nanoparticles
von: Dmitruk, N.L., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Fabrication and conductivity of thin PEDOT:PSS-CNT composite films
von: Mamykin, S.V., et al.
Veröffentlicht: (2021)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
von: V. G. Kravets, et al.
Veröffentlicht: (2017)

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
von: Kravets, V.G., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Optical Properties and XPS-Characterization of Ag/Au Bimetallic Nanoparticles in Porous Sol-Gel Silica Films
von: Eremenko, A.M., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
von: M. V. Vuichyk, et al.
Veröffentlicht: (2014)

Morphologic and optical characterization of ZnO:Co thin films grown by PLD
von: Vuichyk, M.V., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Optical efficiency of Ag and Au nanoparticles
von: N. L. Dmitruk, et al.
Veröffentlicht: (2010)

Characterization and optical properties of organic dye films as recording media
von: Kravets, V.G., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Effect of nanosize metal overlayer on C₆₀ thin film optical parameters near fundamental absorption edge
von: Dmitruk, N.L., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
von: Shybiko, Ya.A., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Optical properties of ion implanted thin Ni films on lithium niobate
von: Lysiuk, V.O., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
von: Severynov, V.L., et al.
Veröffentlicht: (2005)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
von: Yampolskiy, A.L., et al.
Veröffentlicht: (2018)

Optical properties of thin gold film
von: Kovalenko, S.A., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Optical properties of Ge-As-S thin films
von: Tolmachov, I.D., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Optical properties of thin metal films
von: Kovalenko, S.A.
Veröffentlicht: (1999)

Spatial characterization of the edge barrier in wide superconducting thin films
von: A. G. Sivakov, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Origin of surface layer on common substrates for functional material films probed by ellipsometry
von: Belyaeva, A.I., et al.
Veröffentlicht: (2003)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
von: Lendel, V.V., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
von: Kravets, V.G., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Optical properties of dysprosium monoantimonide thin films
von: I. G. Tabatadze, et al.
Veröffentlicht: (2013)

Optical properties of dysprosium monoantimonide thin films
von: Tabatadze, I.G., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Optical size effects in thin gold films
von: Kovalenko, S.A., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
von: H. H. Amer, et al.
Veröffentlicht: (2011)

Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films
von: Amer, H.H., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry
von: Odarych, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Influence of Annealing Environment on the Ni Diffusion Rate to Surface of the Thin-Film Au/Ni System
von: S. I. Sydorenko, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
von: A. L. Yampolskiy, et al.
Veröffentlicht: (2018)

Characterization of nanoscaled films on flat and grating substrates as some elements of plasmonics
von: Dmitruk, N.L., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Spectral distribution of photoelectric quantum yield of thin-film Au-CdTe diode structure
von: Grushko, E.V., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Modification of optical properties and structure of thin films for enhancing absorption
von: V. O. Lysiuk
Veröffentlicht: (2014)

Modification of optical properties and structure of thin films for enhancing absorption
von: Lysiuk, V.O.
Veröffentlicht: (2014)

Deposition and optical absorption studies of Cu–As–S thin films
von: I. P. Studenyak, et al.
Veröffentlicht: (2018)

The electrophysical and optical properties of gadolinium monoantimonide thin films
von: Z. Jabua, et al.
Veröffentlicht: (2012)

Structural, optical, and photovoltaic properties of tetracene thin films
von: M. P. Horishnyi, et al.
Veröffentlicht: (2016)

Structural, optical, and photovoltaic properties of tetracene thin films
von: M. P. Gorishnyi, et al.
Veröffentlicht: (2016)