Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл

Аналитически показано, что удельное электросопротивление ρ приконтактного слоя дырочного ВТСП, граничащего с металлом Ме с электронной проводимостью, является немонотонной функцией расстояния от интерфейса. Максимальное значение ρ соответствует ρAF ВТСП в антиферромагнитном диэлектрическом состоя...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:2013
Hauptverfasser: Соколенко, В.И., Фролов, В.А.
Sprache:Russian
Veröffentlicht: 2013
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118160
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл / В.И. Соколенко, В.А. Фролов // Физика низких температур. — 2013. — Т. 39, № 2. — С. 134–138. — Бібліогр.: 24 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-118160
record_format dspace
spelling Соколенко, В.И.
Фролов, В.А.
2017-05-29T05:17:23Z
2017-05-29T05:17:23Z
2013
Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл / В.И. Соколенко, В.А. Фролов // Физика низких температур. — 2013. — Т. 39, № 2. — С. 134–138. — Бібліогр.: 24 назв. — рос.
PACS: 74.72.–h, 74.25.F–, 73.40.Сg
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118160
Аналитически показано, что удельное электросопротивление ρ приконтактного слоя дырочного ВТСП, граничащего с металлом Ме с электронной проводимостью, является немонотонной функцией расстояния от интерфейса. Максимальное значение ρ соответствует ρAF ВТСП в антиферромагнитном диэлектрическом состоянии на расстоянии x, где разность концентраций фермиевских «гостевых» электронов и «аборигенных» дырок nf е(x) – nf h = 0. При условии nf е = соnst величина контактного сопротивления rc интерфейса ВТСП/Ме может быть индикатором изменений nf h, в частности, температурных. Для оптимально и слабодопированных двухфазных висмутовых керамик BiSrPbCaCuO измерены температурные зависимости rc(Т) интерфейсов ВТСП/Pb и ВТСП/In. Их особенности соответствуют концепции локальных пар, существующих в псевдощелевой фазе до температуры распаривания, представлению о флуктуационной сверхпроводимости, а также переходу в сверхпроводящее состояние.
Аналітично показано, що питомий електроопір ρ приконтактного шару діркового ВТНП, що граничить з металом Ме з електронною провідністю, є немонотонною функцією відстані від інтерфейсу. Максимальне значення ρ відповідає ρAF ВТНП в антиферомагнітному діелектричному стані на відстані x, де різниця концентрацій ферміївських «гостьових» електронів і «аборигенних» дірок nf е(x) – nf h = 0. За умови nf е = соnst величина контактного опору rc інтерфейсу ВТНП/Ме може бути індикатором змін nf h, зокрема, температурних. Для оптимально і слабодопованих двофазних вісмутових керамік BiSrPbCaCuO виміряно температурні залежності rc(Т) інтерфейсів ВТНП/Pb та ВТНП/In. Їх особливості відповідають концепції локальних пар, які існують в псевдощілинній фазі до температури розпарування, уявленню про флуктуаційну надпровідність, а також переходу в надпровідний стан.
It is analytically shown that the specific resistivity ρ of a hole-type HTSC a contact layer abutting upon an electron-type conductivity metal Ме is a nonmonotonic function of distance from interface. A maximum value of ρ corresponds to ρAF of HTSC in the antiferromagnetic dielectric state at a distance x, where the difference in densities of Fermi guest electrons and native holes is e ( ) h 0. n f x − n f = For (0) соnst ef n = the value of rc can be an indicator of changes of hf n , in particular, temperature. The temperature dependences rc(Т) of HTSC/Pb and HТSС/In interfaces in optimally and slightly doped diphasiс Bi ceramics BiSrPbCaCuO are measured. Their features correspond: concept of local pairs, existing in a pseudogap phase till the temperature of depairing, the idea of fluctuation superconductivity and the transition to a superconducting state.
ru
Физика низких температур
Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
Electrical resistivity for HTSC–normal metal interface
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
spellingShingle Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
Соколенко, В.И.
Фролов, В.А.
Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
title_short Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
title_full Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
title_fullStr Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
title_full_unstemmed Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл
title_sort электросопротивление интерфейса втсп–нормальный металл
author Соколенко, В.И.
Фролов, В.А.
author_facet Соколенко, В.И.
Фролов, В.А.
topic Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
topic_facet Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная
publishDate 2013
language Russian
container_title Физика низких температур
title_alt Electrical resistivity for HTSC–normal metal interface
description Аналитически показано, что удельное электросопротивление ρ приконтактного слоя дырочного ВТСП, граничащего с металлом Ме с электронной проводимостью, является немонотонной функцией расстояния от интерфейса. Максимальное значение ρ соответствует ρAF ВТСП в антиферромагнитном диэлектрическом состоянии на расстоянии x, где разность концентраций фермиевских «гостевых» электронов и «аборигенных» дырок nf е(x) – nf h = 0. При условии nf е = соnst величина контактного сопротивления rc интерфейса ВТСП/Ме может быть индикатором изменений nf h, в частности, температурных. Для оптимально и слабодопированных двухфазных висмутовых керамик BiSrPbCaCuO измерены температурные зависимости rc(Т) интерфейсов ВТСП/Pb и ВТСП/In. Их особенности соответствуют концепции локальных пар, существующих в псевдощелевой фазе до температуры распаривания, представлению о флуктуационной сверхпроводимости, а также переходу в сверхпроводящее состояние. Аналітично показано, що питомий електроопір ρ приконтактного шару діркового ВТНП, що граничить з металом Ме з електронною провідністю, є немонотонною функцією відстані від інтерфейсу. Максимальне значення ρ відповідає ρAF ВТНП в антиферомагнітному діелектричному стані на відстані x, де різниця концентрацій ферміївських «гостьових» електронів і «аборигенних» дірок nf е(x) – nf h = 0. За умови nf е = соnst величина контактного опору rc інтерфейсу ВТНП/Ме може бути індикатором змін nf h, зокрема, температурних. Для оптимально і слабодопованих двофазних вісмутових керамік BiSrPbCaCuO виміряно температурні залежності rc(Т) інтерфейсів ВТНП/Pb та ВТНП/In. Їх особливості відповідають концепції локальних пар, які існують в псевдощілинній фазі до температури розпарування, уявленню про флуктуаційну надпровідність, а також переходу в надпровідний стан. It is analytically shown that the specific resistivity ρ of a hole-type HTSC a contact layer abutting upon an electron-type conductivity metal Ме is a nonmonotonic function of distance from interface. A maximum value of ρ corresponds to ρAF of HTSC in the antiferromagnetic dielectric state at a distance x, where the difference in densities of Fermi guest electrons and native holes is e ( ) h 0. n f x − n f = For (0) соnst ef n = the value of rc can be an indicator of changes of hf n , in particular, temperature. The temperature dependences rc(Т) of HTSC/Pb and HТSС/In interfaces in optimally and slightly doped diphasiс Bi ceramics BiSrPbCaCuO are measured. Their features correspond: concept of local pairs, existing in a pseudogap phase till the temperature of depairing, the idea of fluctuation superconductivity and the transition to a superconducting state.
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118160
citation_txt Электросопротивление интерфейса ВТСП–нормальный металл / В.И. Соколенко, В.А. Фролов // Физика низких температур. — 2013. — Т. 39, № 2. — С. 134–138. — Бібліогр.: 24 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT sokolenkovi élektrosoprotivlenieinterfeisavtspnormalʹnyimetall
AT frolovva élektrosoprotivlenieinterfeisavtspnormalʹnyimetall
AT sokolenkovi electricalresistivityforhtscnormalmetalinterface
AT frolovva electricalresistivityforhtscnormalmetalinterface
first_indexed 2025-12-07T20:32:05Z
last_indexed 2025-12-07T20:32:05Z
_version_ 1850882942662868992