Gomeniuk, Y. (2012). Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Gomeniuk, Yu.V. "Determination of Interface State Density in High-k Dielectric-silicon System from Conductance-frequency Measurements." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Gomeniuk, Yu.V. "Determination of Interface State Density in High-k Dielectric-silicon System from Conductance-frequency Measurements." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.