Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
Capacitance-voltage (C-V ) and conductance-frequency ( G-ω ) techniques were modified in order to take into account the leakage current flowing through the metal-oxide-semiconductor (MOS) structure. The results of measurements of interface state densities in several high −k dielectric – silicon syst...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2012 |
| Автор: | Gomeniuk, Yu.V. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2012
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118255 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements / Yu.V. Gomeniuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 1. — С. 1-7. — Бібліогр.: 22 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)
Current transport mechanisms in metal - high-k dielectric - silicon structures
за авторством: Y. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)
за авторством: Y. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012)
Features frequency conductivity of silicon sensor cryogenic temperatures
за авторством: A. A. Druzhinin, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. A. Druzhinin, та інші
Опубліковано: (2016)
Dielectric characteristics of the high heat-conducting AlN-ceramics in the frequency range of 3—93 GHz
за авторством: V. I. Chasnyk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. I. Chasnyk, та інші
Опубліковано: (2013)
Estimation of the dielectric permeability in non-conductive composites with the content and morphology of the conducting particles in the microwave frequencies
за авторством: D. V. Chasnyk, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: D. V. Chasnyk, та інші
Опубліковано: (2021)
The simple approach to determination of active diffused phosphorus density in silicon
за авторством: Sasani, M.
Опубліковано: (2004)
за авторством: Sasani, M.
Опубліковано: (2004)
study of high-frequency induction heating and melting of conducting workpieces taking into account the non-uniform current density in inductor windings
за авторством: A. A. Shcherba, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. A. Shcherba, та інші
Опубліковано: (2015)
Low-temperature deposition of silicon dioxide films in high-density plasma
за авторством: Yasunas, A., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Yasunas, A., та інші
Опубліковано: (2013)
Low-temperature deposition of silicon dioxide films in high-density plasma
за авторством: A. Yasunas, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: A. Yasunas, та інші
Опубліковано: (2013)
The frequency measurements of dielectric properties in the phase transition range in the Li₀.₀₂Na₀.₉₈NbO₃
за авторством: Smiga, W.
Опубліковано: (1999)
за авторством: Smiga, W.
Опубліковано: (1999)
Transitions from low-density state towards high-density state in stochastic bistable plasma-condensate systems
за авторством: Dvornichenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Dvornichenko, A.V., та інші
Опубліковано: (2018)
Radiation losses in a planar dielectric waveguide with a rough interface between dielectric layers
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
Radiation losses in a planar dielectric waveguide with a rough interface between dielectric layers
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. H. Matievosova, та інші
Опубліковано: (2012)
Low surface electromagnetic waves at the metasurface ⁄ dissipative dielectric interface
за авторством: Galaydych, V.K., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Galaydych, V.K., та інші
Опубліковано: (2020)
Interface electronic properties of eterojunctions based on nanocrystalline silicon
за авторством: Kaganovich, E.B., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Kaganovich, E.B., та інші
Опубліковано: (1999)
Basic measuring module for implementation of the high-precision devices for determining the impedance parameters in a wide frequency range
за авторством: V. H. Melnyk, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. H. Melnyk, та інші
Опубліковано: (2020)
On the importance of interface interactions in core-shell nanocomposites of intrinsically conducting polymers
за авторством: Pud, A.A., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Pud, A.A., та інші
Опубліковано: (2019)
Results of study the influence electron irradiation on the high-frequency dielectric properties of zirconia nanoceramics
за авторством: Aizatskyi, N.I., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Aizatskyi, N.I., та інші
Опубліковано: (2015)
Determination of thermoelastic state of piecewise inhomogeneous thermosensitive bodies with cylindrical interfaces
за авторством: B. V. Protsiuk
Опубліковано: (2014)
за авторством: B. V. Protsiuk
Опубліковано: (2014)
Frequency dispersion of dielectric permittivity and dielectric losses in aqueous KCl and CsCl solutions depending on their state parameters
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
Research of the dependences of dielectric properties and frequency spectra of dielectric losses in NaCl aqueous solution on the state parameters
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
Frequency dispersion of dielectric permittivity and dielectric losses in aqueous KCl and CsCl solutions depending on their state parameters
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
Research of the dependences of dielectric properties and frequency spectra of dielectric losses in NaCl aqueous solution on the state parameters
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. Odinaev, та інші
Опубліковано: (2015)
The role of the conduction electrons in the formation of a thermal boundary resistance of the metal-dielectric interface and resistivity of the metal films at low temperatures (Review Article)
за авторством: A. I. Bezuglyj, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. I. Bezuglyj, та інші
Опубліковано: (2016)
Application of Semiconductor Digital Interferometers in High-Density Optical Recording and Geophysical Measurements
за авторством: Britsky, A. I.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Britsky, A. I.
Опубліковано: (2012)
Experimental Researches of Impedance of Conductometric Interface Pt/N2O and Pt/Kcl on Frequencies 10 kHz – 1 MHz
за авторством: A. A. Mikhal, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: A. A. Mikhal, та інші
Опубліковано: (2016)
Dynamics of transformation of conduction electrons into charge-density-wave soliton at low temperatures
за авторством: Kovavev, A.S., та інші
Опубліковано: (1996)
за авторством: Kovavev, A.S., та інші
Опубліковано: (1996)
Determination of Influence Parameters of High Frequency Current on Living Tissues
за авторством: V. V. Danilova, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: V. V. Danilova, та інші
Опубліковано: (2021)
Device for precision measuring of the dielectric parameters of the high voltage insulation under working voltage
за авторством: P. I. Borshchev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: P. I. Borshchev, та інші
Опубліковано: (2014)
Method of multiparametral eddy current measurements of thickness, electric conductivity of material and thickness of dielectric coating of structural elements
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ja. Teterko, та інші
Опубліковано: (2014)
Revision of interface coupling in ultra-thin body silicon-on-insulator MOSFETs
за авторством: T. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: T. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
NUMERICAL COMPUTATION OF ELECTRIC FIELDS IN PRESENCE OF CURVILINEAR INTERFACE BETWEEN CONDUCTIVE AND NON-CONDUCTIVE MEDIA
за авторством: Sokol, Ye. I., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Sokol, Ye. I., та інші
Опубліковано: (2016)
Effect of the contact conductivity of the diamond–metal binder interface on the thermal conductivity of diamond-containing composites
за авторством: R. S. Shmehera, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: R. S. Shmehera, та інші
Опубліковано: (2015)
Distribution of surface density of charges on the interface between contacting isolated conductors of the cables
за авторством: A. V. Besprozvannykh, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. V. Besprozvannykh, та інші
Опубліковано: (2014)
Experimental evaluation of conducted disturbances induced during high frequency switching of active components
за авторством: Slimani, H., та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: Slimani, H., та інші
Опубліковано: (2023)
The high-frequency conductivity of multilayer graphene and graphite under the conditions of quantum cyclotron resonance
за авторством: I. V. Kozlov, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. V. Kozlov, та інші
Опубліковано: (2014)
Powerful sources of pulse high-frequency electromechanical transducers for measurement, testing and diagnostics
за авторством: Plesnetsov, S.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Plesnetsov, S.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
POWERFUL SOURCES OF PULSE HIGH-FREQUENCY ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS FOR MEASUREMENT, TESTING AND DIAGNOSTICS
за авторством: Plesnetsov, S. Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Plesnetsov, S. Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
The liquid-vapor interface of the restricted primitive model of ionic fluids from a density functional approach
за авторством: Patrykiejew, A., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Patrykiejew, A., та інші
Опубліковано: (2011)
Interface Requirements to High Voltage Electronic Transducers
за авторством: Ye. Tankevych
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ye. Tankevych
Опубліковано: (2014)
Схожі ресурси
-
Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements
за авторством: Yu. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012) -
Current transport mechanisms in metal - high-k dielectric - silicon structures
за авторством: Y. V. Gomeniuk
Опубліковано: (2012) -
Features frequency conductivity of silicon sensor cryogenic temperatures
за авторством: A. A. Druzhinin, та інші
Опубліковано: (2016) -
Dielectric characteristics of the high heat-conducting AlN-ceramics in the frequency range of 3—93 GHz
за авторством: V. I. Chasnyk, та інші
Опубліковано: (2013) -
Estimation of the dielectric permeability in non-conductive composites with the content and morphology of the conducting particles in the microwave frequencies
за авторством: D. V. Chasnyk, та інші
Опубліковано: (2021)