Effect of magnetic field on hysteretic characteristics of silicon diodes under conditions of low-temperature impurity breakdown
Effect of magnetic field (up to 14 T) on current-voltage characteristics of silicon n⁺ -p diodes which manifests hysteresis loops related with low-temperature impurity breakdown has been studied. With growth of magnetic field, the hysteresis loops are narrowed and decreased in amplitude and then...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2012 |
| Автори: | Aleinikov, A.B., Berezovets, V.A., Borblik, V.L., Shwarts, M.M., Shwarts, Yu.M. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2012
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118325 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Effect of magnetic field on hysteretic characteristics of silicon diodes under conditions of low-temperature impurity breakdown / A.B. Aleinikov, V.A. Berezovets, V.L. Borblik, M.M. Shwarts, Yu.M. Shwarts // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 3. — С. 288-293. — Бібліогр.: 19 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Effect of magnetic field on hysteretic characteristics of silicon diodes under conditions of low-temperature impurity breakdown
за авторством: A. B. Aleinikov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: A. B. Aleinikov, та інші
Опубліковано: (2012)
Characteristics of diode temperature sensors which exhibit Mott conduction in low temperature region
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2007)
A new method of extraction of a p-n diode series resistance from I-V characteristics and its application to analysis of low-temperature conduction of the diode base
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2009)
New evidence of the hopping nature of the excess tunnel current in heavily doped silicon - diodes at cryogenic temperatures
за авторством: Borblik, V. L., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Borblik, V. L., та інші
Опубліковано: (2017)
New evidence of the hopping nature of the excess tunnel current in heavily doped silicon p-n diodes at cryogenic temperatures
за авторством: V. L. Borblik, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. L. Borblik, та інші
Опубліковано: (2017)
Revealing the hopping mechanism of conduction in heavily doped silicon diodes
за авторством: Borblik, V. L., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Borblik, V. L., та інші
Опубліковано: (2005)
About manifestation of the piezojunction effect in diode temperature sensors
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2003)
Effect of mechanical stress on operation of diode temperature sensors
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2002)
Smoothing cubic spline approximation of silicon diode temperature sensors thermometric characteristics
за авторством: Ivashchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Ivashchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2010)
Peculiarities of injection phenomena in heavily doped silicon structures and development of radiation-resistant diode temperature sensors
за авторством: Shwarts, Yu.M., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Shwarts, Yu.M., та інші
Опубліковано: (2003)
Negative magnetoresistance of heavily doped silicon p-n junction
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2011)
Smoothing cubic spline approximation of silicon diode temperature sensors thermometric characteristics
за авторством: O. M. Ivashchenko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: O. M. Ivashchenko, та інші
Опубліковано: (2010)
Self-consistent method for optimization of parameters of diode temperature sensors
за авторством: Kulish, N.R., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Kulish, N.R., та інші
Опубліковано: (1999)
Effect of nonuniform doping profile on thermometric performance of diode temperature sensors
за авторством: Sokolov, V.N., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Sokolov, V.N., та інші
Опубліковано: (2002)
Non-ohmic Mott conductivity and thermometric characteristics of heavily doped silicon structures
за авторством: Shwarts, Yu.M., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Shwarts, Yu.M., та інші
Опубліковано: (2000)
Negative magnetoresistance of heavily doped silicon p-n junction
за авторством: V. L. Borblik, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. L. Borblik, та інші
Опубліковано: (2011)
Optimized calibration of cryogenic silicon thermodiodes
за авторством: Ivashchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Ivashchenko, O.M., та інші
Опубліковано: (2011)
Electrostatics of the nanowire radial -- diode
за авторством: Borblik, V.L.
Опубліковано: (2019)
за авторством: Borblik, V.L.
Опубліковано: (2019)
On Calculation of Breakdown Electromagnetic Field in Low-Temperature Microwave Plasmatron
за авторством: Tsarin, Yu. A.
Опубліковано: (2013)
за авторством: Tsarin, Yu. A.
Опубліковано: (2013)
Numerical modelling of low-temperature non-equilibrium plasma of pulsing corona and breakdown
за авторством: Chyhin, V.I., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Chyhin, V.I., та інші
Опубліковано: (2007)
Optimized calibration of cryogenic silicon thermodiodes
за авторством: O. M. Ivashchenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: O. M. Ivashchenko, та інші
Опубліковано: (2011)
Method of low-temperature rise of laser diode quality
за авторством: Kamuz, A.M., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Kamuz, A.M., та інші
Опубліковано: (2002)
Nanocrystalline Ge films created by thermal vacuum deposition on GaAs substrates: structural and electric properties
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2014)
Concerning the depletion width of a radial - junction and its influence on electrical properties of the diode
за авторством: Borblik, V.L.
Опубліковано: (2017)
за авторством: Borblik, V.L.
Опубліковано: (2017)
Low-temperature behavior of disordered magnetic impurities: Distribution of effective Kondo temperatures
за авторством: Zvyagin, A.A., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Zvyagin, A.A., та інші
Опубліковано: (2004)
Contacts for silicon IMPATT and pick-off diodes
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Boltovets, N.S., та інші
Опубліковано: (2000)
Low-temperature electron spectra of impurities in naphtalene crystals
за авторством: N. D. Curmei, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: N. D. Curmei, та інші
Опубліковано: (2014)
Low-temperature electron spectra of impurities in naphtalene crystals
за авторством: N. D. Curmei, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: N. D. Curmei, та інші
Опубліковано: (2014)
Low-temperature anomalies in the magnetic and thermal properties of molecular cryocrystals doped with oxygen impurity
за авторством: Freiman, Yu.A., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Freiman, Yu.A., та інші
Опубліковано: (2000)
Electrostatics of the nanowire radial p-i-n diode
за авторством: V. L. Borblik
Опубліковано: (2019)
за авторством: V. L. Borblik
Опубліковано: (2019)
Low pressure gas discharge in magnetically insulated diode
за авторством: Jamirzoev, A., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Jamirzoev, A., та інші
Опубліковано: (2015)
Ultrathin superconducting NbRe microstrips with hysteretic voltage-current characteristic
за авторством: C. Cirillo, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: C. Cirillo, та інші
Опубліковано: (2020)
Relaxation of Magnetosensitive Impurities in Single-Crystalline Silicon
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. A. Makara, та інші
Опубліковано: (2013)
Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Humidity Diode Sensors Based on 1D Nanosized Silicon Structures
за авторством: Ya. O. Linevych, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: Ya. O. Linevych, та інші
Опубліковано: (2024)
Investigations of impurity gettering in multicrystalline silicon
за авторством: Evtukh, A.A., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Evtukh, A.A., та інші
Опубліковано: (2001)
Analyzing silicon for the content of oxygen, nitrogen and hydrogen impurities
за авторством: R. V. Kozin, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: R. V. Kozin, та інші
Опубліковано: (2024)
Microfluctuations of oxygen impurity concentration as a reason of accelerated oxygen diffusion in silicon
за авторством: Neimash, V.B., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Neimash, V.B., та інші
Опубліковано: (2000)
Hysteretic phenomena and switching effects under phase transitions in external field
за авторством: Stefanovich, L.I.
Опубліковано: (1999)
за авторством: Stefanovich, L.I.
Опубліковано: (1999)
Spin-dependent current in silicon p-n junction diodes
за авторством: Tretyak, O.V., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Tretyak, O.V., та інші
Опубліковано: (2010)
Схожі ресурси
-
Effect of magnetic field on hysteretic characteristics of silicon diodes under conditions of low-temperature impurity breakdown
за авторством: A. B. Aleinikov, та інші
Опубліковано: (2012) -
Characteristics of diode temperature sensors which exhibit Mott conduction in low temperature region
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2007) -
A new method of extraction of a p-n diode series resistance from I-V characteristics and its application to analysis of low-temperature conduction of the diode base
за авторством: Borblik, V.L., та інші
Опубліковано: (2009) -
New evidence of the hopping nature of the excess tunnel current in heavily doped silicon - diodes at cryogenic temperatures
за авторством: Borblik, V. L., та інші
Опубліковано: (2017) -
New evidence of the hopping nature of the excess tunnel current in heavily doped silicon p-n diodes at cryogenic temperatures
за авторством: V. L. Borblik, та інші
Опубліковано: (2017)