Nanoprobe spectroscopy of capillary forces and its application for a real surface diagnostics

• Опубліковано в: : Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
• Дата: 2010
• Автори: Efremov, A.A., Lytvyn, P.M., Anishchenko, А.O., Dyachyns’ka, O.M., Aleksyeyeva, T.A., Prokopenko, I.V.
• Формат: Стаття
• Мова: Англійська
• Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2010
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118328
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Nanoprobe spectroscopy of capillary forces and its application for a real surface diagnostics / A.A. Efremov, P.M. Lytvyn, А.O. Anishchenko, O.M. Dyachyns’ka, T.A. Aleksyeyeva, I.V. Prokopenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2010. — Т. 13, № 2. — С. 111-124. — Бібліогр.: 26 назв. — англ.

The paper presents an overview and analysis of the most reliable and at the
 same time rather simple theoretical models describing liquid nanomeniscus geometry and
 forces occurring between atomic force microscope (AFM) probe and a real surface.
 There are experimental result...