Rengevych, O., Beketov, G., & Ushenin, Y. (2014). Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Rengevych, O.V, G.V Beketov, та Yu.V Ushenin. "Visualization of Submicron Si-rods by SPR-enhanced Total Internal Reflection Microscopy." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2014.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Rengevych, O.V, et al. "Visualization of Submicron Si-rods by SPR-enhanced Total Internal Reflection Microscopy." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2014.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.