Зображення обкладинки

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy

The potential of surface plasmon resonance-enhanced total internal reflection microscopy for visualization of submicron particles has been demonstrated using submicron-sized silicon rods as a test object. Submicron Si-rods were deposited onto the surface of a plasmon-suppo...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:	2014
Автори:	Rengevych, O.V., Beketov, G.V., Ushenin, Yu.V.
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2014
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118417
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy / O.V. Rengevych, G.V. Beketov, Yu.V. Ushenin // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2014. — Т. 17, № 4. — С. 368-373. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Visualization of submicron Si-rods by SPR-enhanced total internal reflection microscopy
за авторством: O. V. Rengevych, та інші
Опубліковано: (2014)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: Beketov, G.V.
Опубліковано: (2011)

Enhanced 2D plotting method for scanning probe microscopy imaging
за авторством: G. V. Beketov
Опубліковано: (2011)

Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms
за авторством: Indutnyi, I.Z., та інші
Опубліковано: (2017)

Enhancing sensitivity of SPR sensors using nanostructured Au chips coated with functional plasma polymer nanofilms
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017)

ACHIEVEMENTS IN PHYSICAL CHEMISTRY IN THE FIELD OF MICROSCOPY AND VISUALIZATION OF NANOSYSTEMS
за авторством: Ogenko, Volodymyr
Опубліковано: (2023)

Peculiarities of charge carriers transport in submicron Si-Ge whiskers
за авторством: Druzhinin, A.A., та інші
Опубліковано: (2014)

Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist
за авторством: Dan’ko, V.A., та інші
Опубліковано: (2015)

SPR-spectroscopy of protein molecules adsorbed in microwave field
за авторством: Berezhinsky, L.I., та інші
Опубліковано: (2001)

Nanopatterning Au chips for SPR refractometer by using interference lithography and chalcogenide photoresist
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015)

Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: accuracy consideration
за авторством: Rengevych, O.V., та інші
Опубліковано: (1999)

SPR investigations of the formation of intermediate layer of the immunosensor bioselective element based on the recombinant Staphylococcal protein A
за авторством: A. E. Rachkov, та інші
Опубліковано: (2015)

SPR investigations of the formation of intermediate layer of the immunosensor bioselective element based on the recombinant Staphylococcal protein A
за авторством: Rachkov, A.E., та інші
Опубліковано: (2015)

Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics
за авторством: Vashchenko, V.A., та інші
Опубліковано: (2019)

Submicron-layered composite coatings TiN-CrN on the steel
за авторством: A. A. Andreev, та інші
Опубліковано: (2005)

Optical properties of submicron silicon oxide films after high-temperature processing
за авторством: V. V. Litvinenko, та інші
Опубліковано: (2011)

Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection
за авторством: Balovsyak, S.V., та інші
Опубліковано: (2003)

Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics
за авторством: V. A. Vashchenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Nickel-induced enhancement of photoluminescence in nc-Si–SiOx nanostructures
за авторством: Michailovska, K.V., та інші
Опубліковано: (2014)

Production of submicron Al₂O₃ powders by electrochemical dissolution of aluminum in the presence of nitric acid
за авторством: Balabanov, S.S., та інші
Опубліковано: (2018)

Two-dimensional modeling the static parameters for a submicron field-effect transistor
за авторством: Zaabat, M., та інші
Опубліковано: (2009)

The four-fase straight view total internal reflect spectral prism-polarizer
за авторством: Yu. A. Nestryzhenko
Опубліковано: (2015)

Radiation damages and self-sputtering of high-radioactive dielectrics: spontaneous emission of submicronic dust particles
за авторством: Baryakhtar, V., та інші
Опубліковано: (2002)

Amorphous submicron layer in depletion region: new approach to increase the silicon solar cell efficiency
за авторством: A. V. Kozinetz, та інші
Опубліковано: (2018)

Amorphous submicron layer in depletion region: new approach to increase the silicon solar cell efficiency
за авторством: A. V. Kozinetz, та інші
Опубліковано: (2018)

Laser-stimulated enhancement of the reflectance of single-crystalline n-GaAs(100)
за авторством: P. O. Hentsar, та інші
Опубліковано: (2017)

Laser-stimulated enhancement of the reflectance of single-crystalline n-GaAs(100)
за авторством: P. O. Gentsar, та інші
Опубліковано: (2017)

Nickel-induced enhancement of photo-luminescence in nc-Si-SiOx nanostructures
за авторством: K. V. Michailovska, та інші
Опубліковано: (2014)

AFM study of micromorphology and microscopic growth mechanisms of Hg₁₋x CdxTe LPE epitaxial layers
за авторством: Beketov, G.V., та інші
Опубліковано: (2000)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Scanning tunneling microscopy investigation of the Si(001)-c(8 Ч 8) nanostructured surface
за авторством: A. Goriachko, та інші
Опубліковано: (2015)

Total energy, equation of states and bulk modulus of Si and Ge
за авторством: Jivani, A.R., та інші
Опубліковано: (2002)

Formation of submicron periodic plasmon structures of large area by using the interference lithography method with vacuum photoresists
за авторством: V. A. Danko, та інші
Опубліковано: (2015)

Effect of the Static Strength of a Metal on Long-Rod Penetration at Low Velocities
за авторством: Stepanov, G.V., та інші
Опубліковано: (2000)

The effect of doping methods on electrical properties and micromorphology of polysilicon gate electrode in submicron CMOS devices
за авторством: Ahmad, I., та інші
Опубліковано: (2002)

Growth of long-length sapphire rods of optical quality
за авторством: Andreev, Yu.P., та інші
Опубліковано: (2005)

Analysis of the efficiency of blanket cutting methods in the production of small rolled rods in rods
за авторством: Yu. Kuzmenko, та інші
Опубліковано: (2022)

Model and Method for Evaluation and Forecast of the Changes of Visual System Functional State in Consequence of Visual Work
за авторством: Kochina, M.L., та інші
Опубліковано: (2020)

Distortion compensation technique for high resolution microscopy
за авторством: Borovytsky, V.N.
Опубліковано: (2003)

Effect of low-temperature treatments on photoluminescence enhancement of ion-beam synthesized Si nanocrystals in SiO₂ matrix
за авторством: Khatsevich, I., та інші
Опубліковано: (2008)