Determination of the Schottky barrier height in diodes based on Au–TiB₂–n-SiC 6H from the current-voltage and capacitance-voltage characteristics
We present the results of investigation of the barrier height and ideality factor
 in Schottky barrier diodes based on Au–TiB₂–n-SiC 6H relying on measuring the
 current-voltage and capacitance-voltage characteristics. Improving the accuracy of the
 methods that take into acc...
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| Veröffentlicht in: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Datum: | 2014 |
| Hauptverfasser: | Kudryk, Ya.Ya., Shynkarenko, V.V., Slipokurov, V.S., Bigun, R.I., Kudryk, R.Ya. |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2014
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118424 |
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| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Determination of the Schottky barrier height in diodes based on Au–TiB₂–n-SiC 6H from the current-voltage and capacitance-voltage characteristics / Ya.Ya. Kudryk, V.V. Shynkarenko, V.S. Slipokurov, R.I. Bigun, R.Ya. Kudryk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2014. — Т. 17, № 4. — С. 398-402. — Бібліогр.: 22 назв. — англ. |
Institution
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