Sheremet, V. (2014). Metrological aspects of researching the specific contact resistivity of ohmic contacts by using the four-contact method. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Sheremet, V.N. "Metrological Aspects of Researching the Specific Contact Resistivity of Ohmic Contacts by Using the Four-contact Method." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2014.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Sheremet, V.N. "Metrological Aspects of Researching the Specific Contact Resistivity of Ohmic Contacts by Using the Four-contact Method." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2014.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.