APA (7th ed.) Citation

Kravets, V., & Gorbov, I. (2008). Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Kravets, V.G, and I.V Gorbov. Using Ellipsometry Methods for Depth Analyzing the Optical Disc Data Layer Relief Structures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2008.

MLA (8th ed.) Citation

Kravets, V.G, and I.V Gorbov. Using Ellipsometry Methods for Depth Analyzing the Optical Disc Data Layer Relief Structures. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2008.