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Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate

We have investigated optical properties of films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate by using the method of spectroscopic ellipsometry in dependence on morphology of the films. Different morphology of the films was obtained by flashannealing at various temperatures...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2012
Hauptverfasser:	Bortchagovsky, E.G., Lozovski, V.Z., Mishakova, T.O., Hingerl, K.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118718
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate / E.G. Bortchagovsky, V.Z. Lozovski, T.O. Mishakova, K. Hingerl // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 4. — С. 360-364. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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