Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate

We have investigated optical properties of films of gold nanoparticles on
 Si/SiO₂ substrate by using the method of spectroscopic ellipsometry in dependence on
 morphology of the films. Different morphology of the films was obtained by flashannealing
 at various temperatures...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2012
Автори: Bortchagovsky, E.G., Lozovski, V.Z., Mishakova, T.O., Hingerl, K.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118718
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate / E.G. Bortchagovsky, V.Z. Lozovski, T.O. Mishakova, K. Hingerl // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 4. — С. 360-364. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси