$Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements$

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements

Local atomic structure of GexAs₄₀-xS₆₀ glasses (x = 16, 24, 32, and 36) has been investigated in the -irradiated (2.41 MGy dose) and annealed after irradiation states by using the high-energy synchrotron X-ray diffraction technique. The accumulated dose of 2.41 MGy is chosen to be close to th...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2012
Автори:	Kavetskyy, T.S., Tsmots, V.M., Stepanov, A.L.
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Назва видання:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118720
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements / T.S. Kavetskyy, V.M. Tsmots, A.L. Stepanov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2012. — Т. 15, № 4. — С. 310-320. — Бібліогр.: 43 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs40 xS60 glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: T. S. Kavetskyy, та інші
Опубліковано: (2012)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Radiation-induced structural changes in chalcogenide glasses as revealed from Raman spectroscopy measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S.
Опубліковано: (2013)

Study on the synchrotron dynamics in the Compton X-ray ring
за авторством: Bulyak, E.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Generation of relativistic electron bunches in plasma synchrotron Gyrac-X for hard x-ray production
за авторством: Andreev, V.V., та інші
Опубліковано: (2000)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Radiation-induced structural changes in chalcogenide glasses as revealed from Raman spectroscopy measurements
за авторством: T. S. Kavetskyy
Опубліковано: (2013)

Acousto-optic properties of GexS100–x glasses and acousto-optic modulator on their basis
за авторством: D. I. Bletskan, та інші
Опубліковано: (2014)

The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Ultraviolet sensors based on ZnxCd1 – xS solid solutions
за авторством: Yu. Pavelets, та інші
Опубліковано: (2019)

Ultraviolet sensors based on ZnxCd1 – xS solid solutions
за авторством: Yu. Pavelets, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)

X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Local atomic structures in Si₁₋xGex and Si₁₋xSnx random solid solutions
за авторством: Deibuk, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)

Сенсори ультрафіолетового випромінювання на основі твердих розчинів ZnxCd1 – xS
за авторством: Pavelets, S. Yu., та інші
Опубліковано: (2019)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

Engineering of mixed Bi₄(GexSi₁₋x)₃O₁₂ scintillation crystals
за авторством: Galenin, E., та інші
Опубліковано: (2015)

Radiation-induced optical darkening and oxidation effects in As₂S₃ glass
за авторством: Kavetskyy, T.S.
Опубліковано: (2014)