Угловые осцилляции магнитосопротивления слоистых проводников с многолистной поверхностью Ферми

• Опубліковано в: : Физика низких температур
• Дата: 2011
• Автори: Кириченко, О.В., Песчанский, В.Г.
• Формат: Стаття
• Мова: Російська
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2011
• Теми: Органические проводники
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118758
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Угловые осцилляции магнитосопротивления слоистых проводников с многолистной поверхностью Ферми / О.В. Кириченко, В.Г. Песчанский // Физика низких температур. — 2011. — Т. 37, № 9-10. — С. 925–929. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Проанализирована зависимость электропроводности слоистого проводника с квазидвумерным электронным энергетическим спектром произвольного вида от ориентации внешнего магнитного поля. Показано, что осцилляционная зависимость магнитосопротивления проводника с многолистной поверхностью Ферми (ПФ) от угла наклона сильного магнитного поля к слоям содержит важную информацию о форме ПФ, в частности по периоду осцилляций можно определить величину гофрировки плоского листа ПФ. Проаналізовано залежність електропровідності шаруватого провідника з квазідвовимірним електронним енергетичним спектром довільного виду від орієнтації зовнішнього магнітного поля. Показано, що осциляційна залежність магнітоопору провідника з багатолистною поверхнею Фермі (ПФ) від кута нахилу сильного магнітного поля відносно шарів містить важливу інформацію про форму ПФ, зокрема по періоду осциляцій можна визначити величину гофрировки плаского листа ПФ. The dependence of conductivity of a layered conductor with the quasi-two-dimensional electron energy spectrum of an arbitrary form on an external magnetic field orientation is analyzed. It is shown that the oscillatory dependence of magnetoresistance of the con-ductor with a multisheeted Fermi surface (FS) on the angle of inclination of strong magnetic field to the layers-plane contains important information about the FS shape, in particular the magnitude of FS corrugation may be determined from oscillations period.