The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy
The elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force
 Microscopy (PFM) of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived.
 The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated.
Збережено в:
| Опубліковано в: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2008 |
| ISSN: | 1560-8034 |
| Автор: | Morozovska, A.N. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118851 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | The resolution function and effective response of piezoelectric thin films in Piezoresponse Force Microscopy / A.N. Morozovska // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 2. — С. 171-177. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2007)
Domain structure formation by using Scanning Probe Microscopy: equilibrium polarization distribution and effective piezoelectric response calculations
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2009)
Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015)
Mathematical model of photoacoustic microscopy with piezoelectric detection
за авторством: Vertsanova, E.V., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Vertsanova, E.V., та інші
Опубліковано: (1999)
Distortion compensation technique for high resolution microscopy
за авторством: Borovytsky, V.N.
Опубліковано: (2003)
за авторством: Borovytsky, V.N.
Опубліковано: (2003)
Forced Geometrically Nonlinear Vibrations of Thin Shells with Piezoelectric Layers
за авторством: V. I. Kozlov, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: V. I. Kozlov, та інші
Опубліковано: (2021)
Modelling of micro- and nanodomain arrays recorded in ferroelectrics-semiconductors by using atomic force microscopy
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2006)
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2006)
Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)
Polar properties and local piezoelectric response of ferroelectric nanotubes
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)
Determination of adhesion strength of thin oxide coatings on dielectric materials by the method of atomic force microscopy
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. A. Bilokon, та інші
Опубліковано: (2014)
Pyroelectric response of inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2007)
за авторством: Morozovska, A.N.
Опубліковано: (2007)
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions
за авторством: Fodchuk, I.M., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Fodchuk, I.M., та інші
Опубліковано: (2013)
Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ye. A. Yelisieiev
Опубліковано: (2015)
Influence of electrocapillarity on the water meniscus shape in the atomic force microscopy
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. A. Eliseev
Опубліковано: (2015)
Microwave response of nanostructured High-Tc superconductor thin films
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Microwave response of nanostructured High-Tc superconductor thin films
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Microwave response of cavity resonator with thin superconductor film depending on film temperature and orientation
за авторством: A. A. Barannik, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. A. Barannik, та інші
Опубліковано: (2018)
Piezoelectric response in SmFe3 (BO3)4 in a non-piezoactive configuration. Surface piezoelectricity
за авторством: M. P. Kolodjazhnaja, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: M. P. Kolodjazhnaja, та інші
Опубліковано: (2017)
Modelling of pyroelectric response in inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2006)
Dimensional effects in thin gold films
за авторством: Kovalenko, S.A.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Kovalenko, S.A.
Опубліковано: (2000)
Role of piezoelectricity in dielectric response of Rochelle salt type crystals
за авторством: Levitskii, R.R., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Levitskii, R.R., та інші
Опубліковано: (2003)
Unusual microwave response and bulk conductivity of very thin FeSe₀.₃Te₀.₇ films as a function of temperature
за авторством: Barannik, A.A., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Barannik, A.A., та інші
Опубліковано: (2014)
Laser scanning microscopy of HTS films and devices (Review Article)
за авторством: Zhuravel, A.P., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Zhuravel, A.P., та інші
Опубліковано: (2006)
Domino phase retrieval algorithm for structure determination using electron diffraction and high resolution transmission electron microscopy patterns
за авторством: Chukhovskii, F.N., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Chukhovskii, F.N., та інші
Опубліковано: (2003)
Size effects in thin PbSe films
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)
Some thermodynamic effects in thin film adhesion
за авторством: Chornous, A.M., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Chornous, A.M., та інші
Опубліковано: (2005)
Optical size effects in thin gold films
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2002)
Scanning near-field optical microscopy of magnetic structures in magnetic films
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Belotelov, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)
The role of shear modulus and viscosity of thin organic films on the adsorption response of QCM sensors
за авторством: Z. I. Kazantseva, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Z. I. Kazantseva, та інші
Опубліковано: (2018)
The role of shear modulus and viscosity of thin organic films on the adsorption response of QCM sensors
за авторством: Kazantseva, Z.I., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Kazantseva, Z.I., та інші
Опубліковано: (2018)
Size effects in thin n-PbTe films
за авторством: Men'shikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2014-12-29)
за авторством: Men'shikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2014-12-29)
Forced Resonance Vibrations and Dissipative Heating of Body of Revolution from Viscoelastic Piezoelectric Material
за авторством: V. G. Karnaukhov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. G. Karnaukhov, та інші
Опубліковано: (2015)
Forced vibrations and vibration heating-up of viscoelastic beams with piezoelectric sensors and actuators
за авторством: I. F. Kyrychok, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. F. Kyrychok, та інші
Опубліковано: (2014)
Pulsed laser deposition of thin iron and chromium silicide films with large thermoelectromotive force coefficient
за авторством: S. A. Mulenko
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. A. Mulenko
Опубліковано: (2014)
Pulsed Laser Deposition of Thin Iron and Chromium Silicide Films with Large Thermoelectromotive Force Coefficient
за авторством: Mulenko, S.A.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Mulenko, S.A.
Опубліковано: (2014)
Electromigration and diffusion researches in scanning probe microscopy of solid electrolytes
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: A. N. Morozovska, та інші
Опубліковано: (2015)
Forced vibrations of pre-stressed sandwich plate-strip with elastic layers and piezoelectric core
за авторством: A. Daşdemir
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. Daşdemir
Опубліковано: (2018)
Forced vibrations of pre-stressed sandwich plate-strip with elastic layers and piezoelectric core
за авторством: Daşdemir, A.
Опубліковано: (2018)
за авторством: Daşdemir, A.
Опубліковано: (2018)
Схожі ресурси
-
The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2007) -
Domain structure formation by using Scanning Probe Microscopy: equilibrium polarization distribution and effective piezoelectric response calculations
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2009) -
Spatial resolution of scanning tunneling microscopy
за авторством: Rozouvan, T., та інші
Опубліковано: (2015) -
Mathematical model of photoacoustic microscopy with piezoelectric detection
за авторством: Vertsanova, E.V., та інші
Опубліковано: (1999) -
Distortion compensation technique for high resolution microscopy
за авторством: Borovytsky, V.N.
Опубліковано: (2003)