Hydrogen plasma treatment of silicon thin-film structures and nanostructured layers
The review concentrates on the analysis of the RF hydrogen plasma effect on
 thin-film metal-dioxide-silicon and silicon-dioxide silicon structures which are a modern
 basis of micro- and nanoelectronics. The especial attention is paid to athermic
 mechanisms of transforma...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2008 |
| Автори: | Nazarov, A.N., Lysenko, V.S., Nazarova, T.M. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118855 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Hydrogen plasma treatment of silicon thin-film structures and nanostructured layers / A.N. Nazarov, V.S. Lysenko, T.M. Nazarova // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 2. — С. 101-123. — Бібліогр.: 143 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
Effect of cold plasma treatment on the hydrogen sorption by carbon nanostructures
за авторством: A. V. Dolbin, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. V. Dolbin, та інші
Опубліковано: (2018)
Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Najafov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: B. A. Najafov, та інші
Опубліковано: (2013)
Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Nadzhafov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: B. A. Nadzhafov, та інші
Опубліковано: (2013)
Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Modification of electroluminescence and charge trapping in germanium implanted metal-oxide-silicon light-emitting diodes with plasma treatment
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2005)
Absorption of hydrogen by thin films
за авторством: V. V. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. V. Vlasov, та інші
Опубліковано: (2015)
Enhancement of CdSSe QD exciton luminescence efficiency by hydrogen RF plasma treatment
за авторством: Kunets, V.P., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Kunets, V.P., та інші
Опубліковано: (2003)
Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films
за авторством: Iliash, S.A., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Iliash, S.A., та інші
Опубліковано: (2017)
Functionalization and nanostructurization of surface layers of porous silicon
за авторством: Ye. I. Zubko
Опубліковано: (2013)
за авторством: Ye. I. Zubko
Опубліковано: (2013)
Effect of chemical and radiofrequency plasma treatment on photoluminescence of SiOx films
за авторством: Indutnyy, I.Z., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Indutnyy, I.Z., та інші
Опубліковано: (2006)
Manufacturing and investigation of thin-film aluminium-alumina nanostructures
за авторством: T. S. Lebiedieva, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: T. S. Lebiedieva, та інші
Опубліковано: (2018)
Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)
Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)
Relaxation of photovoltage in ITO-Ge-Si heterojunction with Ge nanostructured thin films
за авторством: S. A. Iliash, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: S. A. Iliash, та інші
Опубліковано: (2017)
Microwave response of nanostructured High-Tc superconductor thin films
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Microwave response of nanostructured High-Tc superconductor thin films
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: P. A. Borisenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)
Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)
Influence of plasma treatment on erosion haracteristics and structure of reversible hydrogen getters
за авторством: Borisko, V.N., та інші
Опубліковано: (2000)
за авторством: Borisko, V.N., та інші
Опубліковано: (2000)
Structural-phase changes in thin films and surface layers of Ti41.5Zr41.5Ni17 alloy, stimulated by radiation-thermal impact of hydrogen plasma
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2019)
Structure and electroluminescent properties of thin tetracene layers on gold island films
за авторством: L. Viduta, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: L. Viduta, та інші
Опубліковано: (2012)
Structure and electroluminescent properties of thin tetracene layers on gold island films
за авторством: L. Viduta, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: L. Viduta, та інші
Опубліковано: (2012)
Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kulyk, S.P., та інші
Опубліковано: (2008)
Vortex molecules in thin films of layered superconductors
за авторством: A. V. Samokhvalov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: A. V. Samokhvalov, та інші
Опубліковано: (2018)
Vortex molecules in thin films of layered superconductors
за авторством: Samokhvalov, A.V., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Samokhvalov, A.V., та інші
Опубліковано: (2018)
Revision of interface coupling in ultra-thin body silicon-on-insulator MOSFETs
за авторством: T. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: T. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)
Revision of interface coupling in ultra-thin body silicon-on-insulator MOSFETs
за авторством: Rudenko, T., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Rudenko, T., та інші
Опубліковано: (2013)
Doping by silicon and photovoltaic properties of thin thulium sesquisulfide films
за авторством: Z. U. Dzhabua, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Z. U. Dzhabua, та інші
Опубліковано: (2014)
Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers
за авторством: O. S. Oberemok, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: O. S. Oberemok, та інші
Опубліковано: (2011)
Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers
за авторством: Oberemok, O.S., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Oberemok, O.S., та інші
Опубліковано: (2011)
Influence of nanostructured ITO films on surface recombination processes in silicon solar cells
за авторством: V. P. Kostylyov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. P. Kostylyov, та інші
Опубліковано: (2015)
Influence of nanostructured ITO films on surface recombination processes in silicon solar cells
за авторством: Kostylyov, V.P., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Kostylyov, V.P., та інші
Опубліковано: (2015)
Structural properties, photoelectric and photoluminescent characteristics of nanostructured silicon
за авторством: A. I. Luchenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: A. I. Luchenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Structural properties, photoelectric and photoluminescent characteristics of nanostructured silicon
за авторством: Luchenko, A.I., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Luchenko, A.I., та інші
Опубліковано: (2012)
Hydrogen saturation influence on erosion behavior of thin W-films under steady state nitrogen plasma impact
за авторством: Glazunov, G.P., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Glazunov, G.P., та інші
Опубліковано: (2005)
Thin Surface Layer of Plasma Treated Polyethylene
за авторством: Kotal, V., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Kotal, V., та інші
Опубліковано: (2008)
Technology optimization of the chloride treatment of cadmium chalcogenide thin films
за авторством: N. M. Kharchenko, та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: N. M. Kharchenko, та інші
Опубліковано: (2008)
Influence of traps in gate oxide-Si film transition layers on FD MOSFET's characteristics at cryogenic emperatures
за авторством: Lysenko, V.S., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Lysenko, V.S., та інші
Опубліковано: (2007)
Crystal structure, phase state, and magnetoresistive properties of nanostructured thin-film systems based on permalloy and noble metals
за авторством: I. M. Pazukha, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: I. M. Pazukha, та інші
Опубліковано: (2022)
Схожі ресурси
-
Effect of cold plasma treatment on the hydrogen sorption by carbon nanostructures
за авторством: A. V. Dolbin, та інші
Опубліковано: (2018) -
Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Najafov, та інші
Опубліковано: (2013) -
Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Nadzhafov, та інші
Опубліковано: (2013) -
Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013) -
Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)