Savenkov, S., Oberemok, Y., Klimov, O., & Barchuk, О. (2009). Effect of the structure of polarimeter characteristic matrix on light polarization measurements. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Savenkov, S.N, Ye.A Oberemok, O.S Klimov, та О.I Barchuk. "Effect of the Structure of Polarimeter Characteristic Matrix on Light Polarization Measurements." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 2009.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Savenkov, S.N, et al. "Effect of the Structure of Polarimeter Characteristic Matrix on Light Polarization Measurements." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2009.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.