Resonance scattering of a transverse sound wave from a planar crystal defect

Resonance scattering of a monochromatic transverse acoustic wave of the
 Rayleigh polarization from an isotop defect layer is considered. The phase
 velocity c of the incident wave along the defect plane is assumed to lie
 in the interval cl > c > ct . It is shown that...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Condensed Matter Physics
Date:1998
Main Authors: Kosevich, A., Semagin, D.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут фізики конденсованих систем НАН України 1998
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118935
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Resonance scattering of a transverse sound wave from a planar crystal defect / A. Kosevich, D. Semagin // Condensed Matter Physics. — 1998. — Т. 1, № 2(14). — С. 409-413. — Бібліогр.: 3 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Resonance scattering of a monochromatic transverse acoustic wave of the
 Rayleigh polarization from an isotop defect layer is considered. The phase
 velocity c of the incident wave along the defect plane is assumed to lie
 in the interval cl > c > ct . It is shown that the phenomena of the total
 reflection of the transverse wave from the thin plane defect and the total
 transition take place for the frequencies depending on the defect parameters.
 The former can always be observed for a heavy defect and never for
 a light one. The latter is possible for both light and heavy defects. Розглянуто резонансне розсiяння на ізотоп-дефектному шарі монохроматичної поперечної звукової хвилі релеївської поляризації. Фазова швидкість c падаючої хвилі вздовж дефектної площини за припущенням лежить в інтервалі ct < c < cl . Показано, що явища повного відбиття поперечної хвилі від тонкого плоского дефекту та повного проходження відбуваються при частотах, що залежать від параметрів дефекту. Перше завжди можна спостерігати для важких дефектів та ніколи для легких. Друге явище можливе як для важких, так
 і для легких дефектів.
ISSN:1607-324X