Effect of the state of the surface layers on the strength of materials for optoelectronic and sensors devices
The goal of this work is to determine the correlation of the strength of brittle
 amorphous nonmetallic materials with the defective surface layers and their physical
 properties. The defective surface layer of materials for optoelectronic and sensors devices
 consists of abu...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Дата: | 2008 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2008
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/119047 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Effect of the state of the surface layers on the strength of materials for optoelectronic and sensors devices / V.P. Maslov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2008. — Т. 11, № 3. — С. 286-291. — Бібліогр.: 19 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineБудьте першим, хто залишить коментар!