Стиль цитування APA (7-ме видання)

Rengevych, O., Shirshov, Y., Ushenin, Y., & Beketov, A. (1999). Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: Accuracy consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Rengevych, O.V, Yu.M Shirshov, Yu.V Ushenin, та A.G Beketov. Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 1999.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Rengevych, O.V, et al. Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 1999.