Rengevych, O., Shirshov, Y., Ushenin, Y., & Beketov, A. (1999). Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: Accuracy consideration. Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Rengevych, O.V, Yu.M Shirshov, Yu.V Ushenin, та A.G Beketov. "Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 1999.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Rengevych, O.V, et al. "Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration." Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 1999.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.