APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Rengevych, O., Shirshov, Y., Ushenin, Y., & Beketov, A. (1999). Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: Accuracy consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Rengevych, O.V, Yu.M Shirshov, Yu.V Ushenin, und A.G Beketov. Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 1999.

MLA-Zitierstil (8. Ausg.)

Rengevych, O.V, et al. Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 1999.