APA (7th ed.) Citation

Rengevych, O., Shirshov, Y., Ushenin, Y., & Beketov, A. (1999). Separate determination of thickness and optical parameters by surface plasmon resonance: Accuracy consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Rengevych, O.V, Yu.M Shirshov, Yu.V Ushenin, and A.G Beketov. Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 1999.

MLA (8th ed.) Citation

Rengevych, O.V, et al. Separate Determination of Thickness and Optical Parameters by Surface Plasmon Resonance: Accuracy Consideration. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 1999.